[发明专利]抗蚀剂组合物、抗蚀剂图案的形成方法、新型化合物以及产酸剂有效
申请号: | 200810173347.0 | 申请日: | 2008-11-13 |
公开(公告)号: | CN101470349A | 公开(公告)日: | 2009-07-01 |
发明(设计)人: | 濑下武广;内海义之;川上晃也;羽田英夫;清水宏明;中村刚 | 申请(专利权)人: | 东京应化工业株式会社 |
主分类号: | G03F7/004 | 分类号: | G03F7/004;G03F7/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 朱 丹 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 抗蚀剂 组合 图案 形成 方法 新型 化合物 以及 产酸剂 | ||
1.一种抗蚀剂组合物,其是含有在酸的作用下对碱显影液的溶解性 发生改变的基材成分(A)和通过曝光来产生酸的产酸剂成分(B)的抗 蚀剂组合物,其特征在于,
所述产酸剂成分(B)含有由下述通式(b1-1)表示的化合物形成的 产酸剂(B1),
式中,Q1是含有酯键的2价连接基团;Y1是可具有取代基的亚烷基或可 具有取代基的氟代亚烷基;X为下式(X-4)所示的环式基;A+是有机阳 离子,
R2是碳原子数为1~6的烷基、碳原子数为1~6的烷氧基、碳原子数为1~ 6的卤代烷基、卤原子、羟基、-COOR”、-OC(=O)R”、羟烷基或氰 基;a是0~2的整数;A’是碳原子数为1~5的亚烷基、-O-、-S-、-O-R3- 或-S-R4-,R”为氢原子或碳原子数为1~15的直链状、支链状或环状的烷 基,R3和R4分别独立地为碳原子数为1~5的亚烷基。
2.根据权利要求1所述的抗蚀剂组合物,其中,所述基材成分(A) 是在酸的作用下对碱显影液的溶解性增加的基材成分。
3.根据权利要求2所述的抗蚀剂组合物,其中,所述基材成分(A) 含有在酸的作用下对碱显影液的溶解性增加的树脂成分(A1),该树脂成 分(A1)具有结构单元(a1),该结构单元(a1)衍生自含有酸解离性溶 解抑制基的丙烯酸酯。
4.根据权利要求3所述的抗蚀剂组合物,其中,所述树脂成分(A1) 还具有结构单元(a2),该结构单元(a2)衍生自含有含内酯的环式基的 丙烯酸酯。
5.根据权利要求3所述的抗蚀剂组合物,其中,所述树脂成分(A1) 还具有结构单元(a3),该结构单元(a3)衍生自含有含极性基的脂肪族 烃基的丙烯酸酯。
6.根据权利要求1所述的抗蚀剂组合物,其含有含氮有机化合物(D)。
7.一种抗蚀剂图案的形成方法,其包含:用权利要求1~6中任一项 所述的抗蚀剂组合物在支撑体上形成抗蚀剂膜的工序、将所述抗蚀剂膜曝 光的工序、以及将所述抗蚀剂膜进行碱显影而形成抗蚀剂图案的工序。
8.一种下述通式(I-11)表示的化合物,
A’是碳原子数为1~5的亚烷基、-O-、-S-、-O-R3-或-S-R4-,R3和R4分 别独立地为碳原子数为1~5的亚烷基,R2是碳原子数为1~6的烷基、碳 原子数为1~6的烷氧基、碳原子数为1~6的卤代烷基、卤原子、羟基、 -COOR”、-OC(=O)R”、羟烷基或氰基;a是0~2的整数;R”为氢 原子或碳原子数为1~15的直链状、支链状或环状的烷基,Y1是可具有取 代基的亚烷基或可具有取代基的氟代亚烷基,M+是碱金属离子,b为0-5 的整数。
9.一种下述通式(b1-1)表示的化合物,
式中,Q1是含有酯键的2价连接基团;Y1是可具有取代基的亚烷基或可 具有取代基的氟代亚烷基;X为下式(X-4)所示的环式基,A+是有机阳 离子,
R2是碳原子数为1~6的烷基、碳原子数为1~6的烷氧基、碳原子数为1~ 6的卤代烷基、卤原子、羟基、-COOR”、-OC(=O)R”、羟烷基或氰 基;a是0~2的整数;A’是碳原子数为1~5的亚烷基、-O-、-S-、-O-R3- 或-S-R4-,R”为氢原子或碳原子数为1~15的直链状、支链状或环状的烷 基,R3和R4分别独立地为碳原子数为1~5的亚烷基。
10.一种产酸剂,其由权利要求9所述的化合物形成。
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