[发明专利]光学拾取装置以及记录或再现信息的装置有效
申请号: | 200810173390.7 | 申请日: | 2000-09-01 |
公开(公告)号: | CN101441879A | 公开(公告)日: | 2009-05-27 |
发明(设计)人: | 大田耕平;木村彻 | 申请(专利权)人: | 柯尼卡美能达精密光学株式会社 |
主分类号: | G11B7/135 | 分类号: | G11B7/135;G11B7/125 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 屠长存 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 拾取 装置 以及 记录 再现 信息 | ||
1.一种在光学信息记录介质上记录信息或再现光学信息记录介质上的信息的光学拾取装置,包括:
一个发射波长不大于500nm的光通量的光源;
一个改变从所述光源发射的光通量的发散角的耦合透镜;
一个用于把通过所述耦合透镜的光通量会聚到光学信息记录介质的信息记录表面上的物镜;
一个探测从所述光学信息记录介质的信息记录表面反射的光的光探测器;以及
一个将从所述信息记录表面反射的光引向所述光探测器的分束器;
其中,所述物镜是由塑料制成的单透镜,
所述耦合透镜位于所述分束器和所述物镜之间的光路中,
所述耦合透镜在光轴方向上移动,从而使得由于温度改变而导致的球差涨落被校正,并且
所述物镜包括至少一个非球面,并且满足下列状态方程:
0.7≤NA,
1.1≤d1/f≤3,
f/vd≤0.060mm,
其中,NA表示所述物镜在光学信息记录介质一侧的数值孔径,d1表示所述物镜的轴向厚度,f表示所述物镜的焦距,以及vd表示所述物镜的材料的阿贝数。
2.如权利要求1所述的光学拾取装置,其中满足下列状态方程:
f/vd≤0.050mm。
3.如权利要求2所述的光学拾取装置,其中所述耦合透镜改变从所述光源发射的光通量的发散角,并且入射到所述耦合透镜的光通量是发散的光通量。
4.如权利要求2所述的光学拾取装置,其中所述耦合透镜是单透镜。
5.如权利要求2所述的光学拾取装置,其中所述耦合透镜包括多个透镜。
6.如权利要求2所述的光学拾取装置,其中当由温度改变导致的球差涨动到较大一侧时,所述耦合透镜在光轴方向上移动以使得所述耦合透镜和所述物镜之间的距离增加,而当由温度改变导致的球差涨动到较小一侧时,所述耦合透镜在光轴方向上移动以使得所述耦合透镜和所述物镜之间的距离减小。
7.如权利要求2所述的光学拾取装置,其中所述耦合透镜在光轴方向上移动,以使得由湿度改变导致的球差涨落被校正。
8.如权利要求2所述的光学拾取装置,其中所述耦合透镜在光轴方向上移动,以使得由所述光学信息记录介质的保护层的厚度的微小改变导致的球差涨落被校正。
9.如权利要求2所述的光学拾取装置,其中所述耦合透镜在光轴方向上移动,以使得由所述光源的振荡波长的微小改变导致的球差涨落被校正。
10.如权利要求2所述的光学拾取装置,其中所述光学信息记录介质的保护层的厚度不大于0.2mm。
11.如权利要求2所述的光学拾取装置,其中由音圈式致动器使所述耦合透镜在光轴方向上移动。
12.如权利要求2所述的光学拾取装置,其中由压电致动器使所述耦合透镜在光轴方向上移动。
13.如权利要求2所述的光学拾取装置,其中所述物镜满足下列状态方程:
1.40≤n<1.85,
其中,n表示所述物镜的材料在所使用的波长下的折射率。
14.如权利要求2所述的光学拾取装置,其中所述耦合透镜具有校正所述物镜的色差的功能。
15.如权利要求14所述的光学拾取装置,其中所述耦合透镜包括衍射面。
16.一种在光学信息记录介质上记录信息或再现光学信息记录介质上的信息的装置,包括:
如权利要求1至15中任何一项所述的光学拾取装置。
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