[发明专利]触控面板的坐标检测系统

说明书

技术领域

本发明是与电阻式触控面板有关，特别是有关于一种触控面板的坐标检测系统。

背景技术

请参阅图18，现有电阻式触控面板结构包括一镀有铟锡氧化物(Indium Tin Oxides，ITO)薄膜的上基板1以及一镀有ITO薄膜的下基板2，当触控面板被触控时，上基板1与下基板2于按压处导通且会产生电压降，一处理器(图未示)则会算出电压降所占的比例而进一步算出坐标轴。

然而，上述现有技术只能检测触控一点的坐标，如果有不慎的误触致发生多点触控(multi touch)情形时，则会造成触控点检测错误，如图19至图22所示，图中触控点T1及触控点T2同时被按压，此时现有的触控面板的坐标检测系统只能检测到一个等效电阻值而无法个别检测触控点T1及触控点T2的电阻值，即得到一位于触控点T3的坐标，而非触控点T1及触控点T2其中一点的坐标；换句话说，即同一时间内，触控点数量在两点以上，最终只会检测到一点坐标；但是所检测到的这一点坐标，并非前述该等触控点其中一点而是不正确的坐标。以此，现有技术无法达到多点触控的目的，形成触控面板在操作行为上的限制。

综上所陈，现有触控面板的坐标检测系统具有上述的缺失而有待改进。

发明内容

有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种触控面板的坐标检测系统，其能够确实检测多个触控点的所在坐标，具有多点触控(multi touch)的特色。

为达成上述目的，本发明所提供一种触控面板的坐标检测系统，包含有：一下基板具有一第一透光片以及多个并列布设于该第一透光片顶面的第一条状导体；多个绝缘体(spacer)布设于该第一透光片顶面；一上基板具有一第二透光片以及多个并列布设于该第二透光片底面的第二条状导体；该第二透光片底面贴抵该等绝缘体，该多个第二条状导体与该多个第一条状导体不相互接触；该多个第二条状导体相对该多个第一条状导体的投影位置界定出多个感测点；一控制装置输出一测试信号以轮询方式对该多个第一条状导体以及该多个第二条状导体依序传送；一处理器记录电压值及电阻值的变化并以此推算至少一坐标，该坐标即为该多个感测点中被触发者的位置。

以此，本发明触控面板的坐标检测系统透过上述步骤，其能够克服电阻式触控面板在多点触控会造成检测错误的缺失；换句话说，本发明能够确实检测多个触控点的所在坐标，进而提供正确的坐标；其相较于现有的其他系统，具有多点触控(multi touch)的特色。

附图说明

图1为本发明第一较佳实施例的结构示意图，主要揭示各元件的结构。

图2为本发明第一较佳实施例的结构示意图，主要揭示下基板与上基板之间的结构。

图3为本发明第一较佳实施例的系统架构示意图。

图4为本发明第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示下基板轮询至Y₁的情形。

图5为本发明第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示下基板轮询至Y₂的情形。

图6为本发明第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示下基板轮询至Y₃的情形。

图7为本发明第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示上基板的输出状态。

图8为本发明第一较佳实施例的测试信号的动作步序图。

图9为本发明第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示上基板轮询至X₁的情形。

图10为本发明第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示上基板轮询至X₂的情形。

图11为本发明第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示上基板轮询至X₃的情形。

图12为本发明第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示下基板的输出状态。

图13为本发明第二较佳实施例的系统架构示意图。

图14为本发明第二较佳实施例的动作示意图，主要揭示测试信号正向输入至Y₂的情形。

图15为本发明第二较佳实施例的动作示意图，主要揭示测试信号反向输入至Y₂的情形。

图16为本发明第二较佳实施例的动作示意图，主要揭示上基板的输出状态。

图17为本发明第二较佳实施例的测试信号的动作步序图。

图18为现有触控屏幕的结构示意图。

图19为现有触控屏幕的动作示意图，主要揭示上基板扫描Y轴的情形。

图20为现有触控屏幕的动作示意图，主要揭示下基板扫描Y轴的情形。

图21为现有触控屏幕的示意图，主要揭示触控屏幕检测触控点Y轴坐标的等校电路。