[发明专利]驱动一输出级的驱动电路有效
申请号: | 200810174072.2 | 申请日: | 2008-11-13 |
公开(公告)号: | CN101552593A | 公开(公告)日: | 2009-10-07 |
发明(设计)人: | 吴国宏;曾冠仁 | 申请(专利权)人: | 原景科技股份有限公司 |
主分类号: | H03F1/52 | 分类号: | H03F1/52 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 蒲迈文 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 驱动 输出 电路 | ||
技术领域
本发明涉及一种驱动电路,且特别是涉及一种驱动一输出级的驱动电路。
背景技术
在功率放大器电路中,拥有一个高效能且又具有小面积的输出级,是最理想的情况。传统的输出级设计方式,是以一P型金属氧化物半导体(PMOS)晶体管及一N型金属氧化物半导体(NMOS)晶体管分别做为低侧及高侧的晶体管。然而在新一代的技术中,输出级包含如图1所示的两个N型金属氧化物半导体晶体管。这样的双N型金属氧化物半导体晶体管输出级1包含一高侧N型金属氧化物半导体晶体管10及一低侧N型金属氧化物半导体晶体管12。高侧N型金属氧化物半导体晶体管10包含一漏极、一栅极及一源极,其中漏极连接至一电压PVDD,栅极连接至一高侧驱动级11,源极连接至一输出端OUT。低侧N型金属氧化物半导体晶体管12包含一漏极、一栅极及一源极,其中源极连接至一第二电压PVSS,栅极连接至一低侧驱动级13,漏极连接至输出端OUT。虽然这样的设计可以改进原先的P型-N型输出级,而使面积变小,效率更佳,但是也带来了新的问题。其中一项问题即是,N型金属氧化物半导体晶体管的Vgs及Vds的最大值并不对称,其中Vgs无法承受至较高的电压值。因此,如高侧N型金属氧化物半导体晶体管10的高侧驱动级11没有适当的设计,高侧N型金属氧化物半导体晶体管10将因为放大的功效而使源极的输出电压远高于栅极的输入电压,进一步使高侧N型金属氧化物半导体晶体管10遭到损坏。
因此,如何设计一个新的驱动电路,能够在驱动输出级外,提供一个保护的机制,使输出级不致损坏,乃为此一业界亟待解决的问题。
发明内容
因此本发明的目的就是在提供一种驱动电路,用以驱动一输出级,输出级包含一高侧N型金属氧化物半导体晶体管及一低侧N型金属氧化物半导体晶体管,驱动电路包含:一二极管,包含一阳极端及一阴极端,其中阳极端耦接于一第一电压;阴极端耦接于一第一P型金属氧化物半导体晶体管及一第二P型金属氧化物半导体晶体管的一源极;一第三P型金属氧化物半导体晶体管包含一漏极、一源极及一栅极,其中该源极电连接于该第一P型金属氧化物半导体晶体管的一栅极,该漏极电连接于该第二P型金属氧化物半导体晶体管的一漏极及该高侧N型金属氧化物半导体晶体管的一栅极;一第四P型金属氧化物半导体晶体管包含一漏极、一源极及一栅极,其中该源极电连接于该第二P型金属氧化物半导体晶体管的一栅极,该漏极电连接于该第一P型金属氧化物半导体晶体管的一漏极;一第一N型金属氧化物半导体晶体管及一第二N型金属氧化物半导体晶体管分别包含一漏极、一源极及一栅极,其中漏极分别电连接于第四P型金属氧化物半导体晶体管的漏极及第三P型金属氧化物半导体晶体管的漏极,源极均耦接于一第二电压,栅极分别电连接于一第一输入及一第二输入。
在参考附图及随后描述的实施方式后,本领域技术人员便可了解本发明的目的,以及本发明的技术手段及实施态样。
附图说明
为使本发明的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂,附图的详细说明如下:
图1为现有技术中,一包含双N型金属氧化物半导体晶体管的输出级的示意图;
图2为本发明的第一实施例的一驱动电路及一输出级的示意图;以及
图3为本发明的驱动电路中,不同点电压的时序图。
附图符号说明
1:双N型金属氧化物半导体晶体管输出级
12:低侧N型金属氧化物半导体晶体管
20:驱动电路
201:第一P型金属氧化物半导体晶体管
203:第三P型金属氧化物半导体晶体管
205:第一N型金属氧化物半导体晶体管
207:电容
209:反相器
213:负载
210:高侧N型金属氧化物半导体晶体管
10:高侧N型金属氧化物半导体晶体管
11:高侧驱动级
13:低侧驱动级
200:二极管
202:第二P型金属氧化物半导体晶体管
204:第四P型金属氧化物半导体晶体管
206:第二N型金属氧化物半导体晶体管
208:限压电路
211:电流镜
21:输出级
212:低侧N型金属氧化物半导体晶体管
具体实施方式
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