[发明专利]扫描单元和带有该扫描单元的光学位置测量装置有效

专利信息
申请号: 200810174466.8 申请日: 2008-11-07
公开(公告)号: CN101435694A 公开(公告)日: 2009-05-20
发明(设计)人: G·施奈德 申请(专利权)人: 约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G02B26/10
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 赵 辛
地址: 德国特劳*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 扫描 单元 带有 光学 位置 测量 装置
【权利要求书】:

1.能用于对一个能在测量方向(X)内进行相对运动的比例尺(1) 实施光学扫描的扫描单元,包括:

-一个探测装置(6);

-一个带有第一表面(10)和第二表面(9)的透明载体(5), 其中探测装置(6)布置在第二表面(9)上;

-一块透明盖板(15),该盖板固定在透明载体(5)的第一表面 (10)上并具有一层屏蔽层(16)作为探测装置(6)对电磁场的屏蔽,

-透明载体(5)与探测装置(6)布置在基体(20)的凹槽(21) 中,且凹槽(21)用盖板(15)覆盖,

-基体(20)是导电的,且屏蔽层(16)与基体(20)电导连接,

-透明盖板(15)具有侧向伸出透明载体(5)的区段(15.1),

-屏蔽层(16)设置在透明盖板(15)的面向透明载体(5)第一 表面(10)的表面上,

-屏蔽层(16)在盖板(15)的伸出区段(15.1)上与基体(20) 电接触。

2.按权利要求1所述的扫描单元,其特征为,该屏蔽层是用导电 材料制成的透明层(16)。

3.按权利要求2所述的扫描单元,其特征为,该导电材料具有铟 锡氧化物。

4.按前述权利要求任一项所述的扫描单元,其特征为,透明载体 (5)具有扫描光栅(7)。

5.按权利要求4所述的扫描单元,其特征为,扫描光栅(7)设置 在透明载体(5)的第一表面(10)上。

6.按权利要求1至3中任一项所述的扫描单元,其特征为,透明 载体(5)的第二表面(9)具有一层构成导体电路模型(11)的涂层, 探测装置(6)用倒装芯片技术与该导体电路模型接触。

7.按权利要求1至3中任一项所述的扫描单元,其特征为,盖板 (15)的屏蔽层(16)用导电的胶粘剂(23)与基体(20)电接触。

8.按权利要求1至3中任一项所述的扫描单元,其特征为,由透 明载体(5)和盖板(15)组成的组件定位在基体(20)的凹槽(21) 中,这时,透明载体(5)的两侧与基体(20)的挡块(24)配合。

9.按权利要求8所述的扫描单元,其特征为,在定位完好的状态 内,盖板(15)在整个周边上离盖板(15)四周对应的基体(20)的 凹槽(21)的内周面有一定距离。

10.光学位置测量装置,带有一个比例尺(1)和一个按前述权利 要求任一项所述的能用于对一个能在测量方向(X)内进行相对运动的 比例尺(1)实施光学扫描的扫描单元,其中透明载体(5)的第一表 面(10)面向比例尺(1),而透明载体(5)的第二表面(9)则面离 比例尺(1)。

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