[发明专利]显示装置、显示控制方法和电子设备有效

专利信息
申请号: 200810175532.3 申请日: 2008-11-03
公开(公告)号: CN101425282A 公开(公告)日: 2009-05-06
发明(设计)人: 中西贵之;仲岛义晴 申请(专利权)人: 索尼株式会社
主分类号: G09G3/36 分类号: G09G3/36;G09G3/34;G09F9/33
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 余 刚;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 显示装置 显示 控制 方法 电子设备
【说明书】:

相关申请的交叉参考

本发明包含于2007年11月2日向日本专利局提交的日本专利申请JP2007-286444的主题,其全部内容结合于此作为参考。

技术领域

本发明涉及用于显示给定画面的显示装置、用于控制所述显示装置的显示控制方法以及使用所述显示装置的电子设备。

背景技术

在液晶显示装置中使用的用于控制背光亮度的已知薄膜晶体管(TFT)面板包括在面板中形成的光电传感器。这种显示装置根据光电传感器检测的光强度控制背光亮度。

另一方面,已经设计出新的结构以在具有光电传感器的显示装置中消除来自光电传感器元件的暗电流。在这种结构的一个实例中,串联连接两个光电传感器,即,一个亮度控制传感器和另一个光屏蔽传感器,以便输出两个传感器之间的光强度差。在另一个可能的结构中,并行连接多个光屏蔽光电传感器以允许从其中选择一些传感器,使得可以消除光电传感器元件之间的特性差异。这就允许改变光电传感器的元件尺寸(参考图16)。

要得到更多的信息,建议读者参考日本专利公开第2006-106294号。

发明内容

然而,尽管通过改变预置光电传感器元件的尺寸可以适应亮度控制光电传感器和光屏蔽光电传感器之间的差异,光电传感器元件的尺寸越接近最优尺寸,亮度控制光电传感器和光屏蔽光电传感器之间的暗电流差越小。结果,需要大量时间以基于差分输出来确定元件尺寸是否是最优的。这使得不能快速调节光电传感器元件尺寸达到最优。

本发明解决了上面的问题。即,在实施本发明的过程中,根据其一个实施例,提供包括第一和第二检测部以及比较器的显示装置。第一检测部检测显示区域周围的光强度。第二检测部检测光被遮蔽时的暗电流。比较器将第一和第二检测部之间的差分输出与基准值比较。显示装置根据比较器的比较结果控制提供给显示区域的光强度。第一或第二检测部具有多个并行连接的检测元件以供选择。向比较器输入两种信号,即,适于选择差分输出的极性的极性信号和适于选择给定基准值的极性的基准值选择信号。通过选择组成第一或第二检测部的多个检测元件来设定第一和第二选择。第一选择使得在第二检测部中转化为暗电流的量小于在第一检测部中转化为暗电流的量。第二选择使得在第二检测部中转化为暗电流的量大于在第一检测部中转化为暗电流的量。向比较器输入极性信号和基准值选择信号,使得被输入比较器的差分输出和给定基准值的极性在第一和第二选择之间相反。基于在为第一和第二选择设定的两种极性情况下的比较器的比较结果,选择组成第一或第二检测部的多个检测元件,使得暗电流量在第一和第二检测部中相等。

在如上述配置的实施例中,将适于选择差分输出的极性的极性信号和适于选择给定基准值的极性的基准值选择信号输入比较器。为了根据第二或第一检测部的元件尺寸选择用于第一或第二检测部的多个检测元件,因此,选择两种情况,一种是其中的元件尺寸比第一或第二检测部中的元件尺寸小,以及另一种是其中的元件尺寸更大。这使得在两种情况之间颠倒被输入比较器的差分输出和给定基准值的极性成为可能。结果,即使两种情况下检出的暗电流量在符号上相反(正或负),也可以在比较结果的极性彼此匹配下,使第一或第二检测部的元件尺寸最优化。

此外,在实施本发明的过程中,根据其另一个实施例,提供用于显示装置的显示控制方法,显示装置包括:第一检测部,被配置用于检测显示区域周围的光强度;第二检测部,被配置用于检测光被遮蔽时的暗电流;以及比较器,被配置用于将第一和第二检测部之间的差分输出与给定基准值比较,第一或第二检测部具有多个并行连接的检测元件以供选择。所述显示控制方法包括下列步骤:根据比较器的比较结果控制提供给显示区域的光强度;并向比较器输入适于选择差分输出的极性的极性信号和适于选择给定基准值的极性的基准值选择信号。该方法还包括通过组成第一或第二检测部的多个检测元件的选择来设定第一和第二选择的步骤,第一选择使得在第二检测部中转化为暗电流的量小于在第一检测部中转化为暗电流的量,第二选择使得在第二检测部中转化为暗电流的量大于在第一检测部中转化为暗电流的量。该方法还包括下列步骤:向比较器输入极性信号和基准值选择信号,使得被输入比较器的差分输出和给定基准值的极性在第一和第二选择之间相反;并且基于在为第一和第二选择设定的两种极性情况下的比较器的比较结果,选择组成第一或第二检测部的多个检测元件,使得暗电流量在第一和第二检测部中相等。

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