[发明专利]桥接SAS信道测试系统及其测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种桥接SAS信道测试系统及其方法，特别涉及一种将热插拔 装置桥接至SAS信道的测试系统及其方法。

背景技术

SAS(Serial Attached SCSI)界面是新一代的SCSI(Small Computer Small  Interface，SCSI)界面。SAS是并行SCSI界面(Parallel SCSI)之后所开发出 的全新界面。因此SAS界面可以提供多点介接、并且数据可以6Gb/s速度双向 传输。此外，SAS界面透过缩小连接线的设计，而有减少系统内部空间的优点， 而且SAS界面还可向下兼容，例如SATA(Serial ATA)硬盘。

SAS信道是利用低电压差动信号(Low Voltage Difference Signal，LVDS) 进行数据传输的，根据规范每对低电压差动线路上可以采用1.5Gbps和 3.0Gbps的数据传输速率。相较于其它界面，LVDS的优点包括(1)可用于低 电压电源供应的环境。(2)产生的信号具低噪声。(3)具有高抗噪声能力。 (4)强健的传输信号能力。(5)易于整合入系统芯片中。SAS信道所使用的 传接收电压分别TX为800～1600mV、RX为275～1600mV。每一个SAS的物理连 接器界面最大可以提供四个物理链接(physical link)。换句话说，每一个物 理链接就是一个SAS硬盘。在每一个物理链接中均包括两对差动信号线(Tx+/- 和Rx+/-，即四条传输电缆)。请参考图1所示，其为现有SAS物理连接器界 面所提供物理链接示意图。

图1中每一行所代表的是不同的物理链接，而每一列所代表的是不同的 Tx与Rx组。举例来说，当第一物理链接(请参考虚线范围)与SAS物理连接 器界面相连结，则第一物理链接会使用SAS物理连接器界面的Rx 0+、Rx 0-、 Tx 0+与Tx 0-。若SAS物理连接器界面同时连接第一与第二物理链接的话， 则第一物理链接则上述所示，而第二物理链接则使用Rx 1+、Rx 1-、Tx 1+与 Tx 1-。若有其它物理链接连结于SAS物理连接器界面则依此类推。

请参考图2所示，为现有SAS信道的测试系统示意图。现有的SAS信道 测试方法是将SAS硬盘230连接到控制端210上，控制端210中的检测程序对 SAS硬盘230存取操作，通过对SAS硬盘230的读写来测试经过SAS接口221 所对应的信道的该些测试信号是否完整。请参考图3所示，其为现有SAS通道 的检测流程图。首先，将测试用SAS硬盘安装至SAS背板(步骤S310)。接 下来，启动系统的测试程序(步骤S320)。测试程序对SAS硬盘进行存取操 作(步骤S330)。控制端接收SAS硬盘的存取测试报告(步骤S340)。

但由于SAS背板220中具有多达8～16个SAS接口221，所以安装等量的 SAS硬盘230就得耗费许多时间。更何况每一次安装SAS硬盘230就得重新启 动控制端210，因此整体的测试时间就会被拉长。

发明内容

鉴于以上的问题，本发明的主要目的在于提供一种桥接SAS信道测试系 统，应用于SAS背板所包括的多组SAS接口，测试系统通过桥接SAS接口连结 至多个终端装置，测试系统检测存取于终端装置的测试信号，待测系统根据测 试信号用以检测SAS接口是否异常。

从本发明的另一观点，本发明提出一种桥接SAS信道测试方法，应用于一 SAS背板所包括的多对SAS接口，侦测所选择的该对SAS信道于传输数据时是 否正常运作。

为达上述目的，本发明所公开了一种桥接SAS信道测试系统，用以测试具 有多个SAS接口的转接板，该测试系统通过桥接SAS接口连结至多个终端装置， 该测试系统检测存取于该些终端装置的测试信号，该测试系统根据测试信号用 以检测SAS接口是否异常，该测试系统包括有：

一控制端，用以发送测试信号、检测该些终端装置所回传的待测信号及选 择该些SAS接口的其中之一作为发送测试信号的传送路径；

一热插拔桥接界面，电性连接于该控制端，该热插拔桥接界面用以接收及 转换该控制端发送的测试信号；以及

一转接板，电性连接于该热插拔桥接界面与该些终端装置之间，该转接板 用以转换该热插拔桥接界面对SAS信道的低电压差动信号，将低电压差动信号 传输至该些终端装置。