[发明专利]一种自动光学检测设备及其检测方法

权利要求书

1.一种自动光学检测设备，用以检测一待测物的多个表面，其特征在于，该自动光学检测设备包含：

一光源装置，用以产生光线以照射于该待测物的该多个表面；

一影像感测装置，接收该待测物的反射光线以产生一检测影像；以及

一光学结构件，装设于该光线的光径上，包含：

一基座，

多个反射结构，设置于该基座上，该待测物置于该些反射结构间，该些反射结构用以将反射自该多个表面的光线，再反射至该影像感测装置。

2.根据权利要求1所述的自动光学检测设备，其特征在于，该待测物为一六面体，该光学结构件对应该六面体周围环绕的四个侧面，具有四个反射结构。

3.根据权利要求1所述的自动光学检测设备，其特征在于，该自动光学检测设备还包含一移料装置，以该移料装置抓取该待测物，该些反射结构设置于该基座的正面，于该些反射结构间的基座上具有一通透孔，该移料装置自该基座背面通过该通透孔，以将该待测物置于该些反射结构间。

4.根据权利要求1所述的自动光学检测设备，其特征在于，该反射结构的反射表面进一步包含一反光层。

5.根据权利要求1所述的自动光学检测设备，其特征在于，该检测影像包含该待测物周围的侧面以及正表面所反射的影像。

6.一种光学结构件，应用于一自动光学检测设备中，该自动光学检测设备用以检测一待测物的多个表面，该自动光学检测设备还包含一光源装置以及一影像感测装置，该光源装置用以产生光线以照射于该待测物的该多个表面，该影像感测装置接收该待测物的反射光线以产生一检测影像，该光学结构件装设于该光线的光径上，其特征在于，该光学结构件包含：

一基座；以及

多个反射结构，该些反射结构设置于该基座上，该待测物置于该些反射结构间，该些反射结构用以将反射自该多个表面的光线，再反射至该影像感测装置。

7.根据权利要求6所述的光学结构件，其特征在于，该待测物为一六面体，对应该六面体周围环绕的四个侧面，该光学结构件具有四个反射结构。

8.根据权利要求6所述的光学结构件，其特征在于，该自动光学检测设备还包含一移料装置，以该移料装置的吸盘吸附固定该待测物，该些反射结构设置于该基座的正面，于该些反射结构间的基座上具有一通透孔，该移料装置自该基座背面通过该通透孔，以将该待测物置于该些反射结构间。

9.根据权利要求6所述的光学结构件，其特征在于，该反射结构的反射表面进一步包含一反光层。

10.根据权利要求6所述的光学结构件，其特征在于，该检测影像包含该待测物周围的侧面以及正表面所反射的影像。

11.一种光学检测方法，利用一自动光学检测设备以检测一待测物的多个表面，其特征在于，该光学检测方法包含下列步骤：

置该待测物于一光学结构件的多个反射结构间；

以一光源装置照射光线于该待测物多个表面；

反射自该待测物多个表面的光线，分别照射在该些反射结构上；以及

以一影像感测装置接收反射自该些反射结构的光线，以形成一检测影像。

12.根据权利要求11所述的光学检测方法，其特征在于，该待测物为一六面体，对应该六面体周围环绕的四个侧面，该光学结构件具有四个反射结构。

13.根据权利要求11所述的光学检测方法，其特征在于，该些反射结构设置于一基座的正面，于该些反射结构间的基座上具有一通透孔，该光学检测方法进一步包含下列步骤：以一移料装置吸附固定该待测物，该移料装置自该基座背面通过该通透孔，以将该待测物置于该些反射结构间。

14.根据权利要求11所述的光学检测方法，其特征在于，该反射结构的反射表面进一步包含一反光层。

15.根据权利要求11所述的光学检测方法，其特征在于，该检测影像包含该待测物周围的侧面以及正表面所反射的影像。