[发明专利]发光装置

说明书

技术领域

本发明关于一种发光装置。

背景技术

在液晶显示设备(LCD apparatus)中，一般是使用冷阴极荧光灯作为背光模块的发光单元。然而，因为冷阴极荧光灯对于色彩的表现较不如发光二极管(light-emitting diode，LED)，因此，在发光二极管的技术逐渐成熟的前提下，目前已有业者将发光二极管作为发光装置使用。

请参照图1所示，习知的发光装置1具有一电源供应电路11及多个发光二极管12，其通过电源供应电路11提供电源至各发光二极管12，以使各发光二极管12发光。

然而，在习知技术中，并未利用其它的检测电路来检测各发光二极管12的状态。因此，当有任何的发光二极管12损坏形成开路O时，也没有其它控制电路来关闭电源供应电路11，使其停止供应电源至损坏的发光二极管12中。另外，若发光二极管12已达最大亮度，电源供应电路11也无法相应地调整提供至发光二极管12的电源大小，而这些情况都会造成电能的损耗与浪费。

因此，如何能对发光装置的电源做更有效的控制，并减少电能的损耗与浪费，实属当前重要课题之一。

发明内容

有鉴于上述课题，本发明的目的为提供一种能对发光电路的电源做更有效的控制，以减少电能损耗与浪费的发光装置。

为达上述目的，依据本发明的一种发光装置包含一电源供应电路、一发光电路及一检测控制电路。电源供应电路输出一电流。发光电路与电源供应电路电连接，并具有串联连接的多个发光单元。各发光单元具有相互电连接的一发光元件及一开关元件。检测控制电路检测发光电路的功率、或电压、或电流、或开关状态，而停止供应电流至发光电路。

承上所述，依据本发明的发光装置先通过检测控制电路检测发光电路的功率、或电压、或电流、或开关状态，而停止供应电流至发光电路。因此，本发明的发光装置可依据发光电路的状态，来对应地控制发光电路电流的供应，由此即可减少不必要的电能损耗与浪费。

附图说明

图1为一种习知的发光装置示意图；

图2为本发明的发光装置示意图；以及

图3及图4为本发明的发光装置不同变化样式示意图。

元件符号说明：

1、2、2a、2b：发光装置

11、3：电源供应电路

12：发光二极管

4：发光电路

41：发光单元

411：发光元件

412：开关元件

5、5a、5b：检测控制电路

51：亮度控制单元

511：比较元件

512：电荷储存元件

513：感测元件

52：检测单元

53：电源控制单元

6：旁路开关电路

F：反馈信号

I：电流

O：开路

具体实施方式

以下将参照相关附图，说明依据本发明的一种发光装置，其中相同元件以相同符号表示。

请参照图2所示，本发明的发光装置2包含一电源供应电路3、一发光电路4以及一检测控制电路5。

电源供应电路3输出一电流I，而电流I可为直流(DC)或交流(AC)。发光电路4与电源供应电路3电连接，并具有串联连接的多个发光单元41。各发光单元41具有相互电连接的一发光元件411及一开关元件412。其中，在本实施例中，以发光单元41具有多个发光元件411，且开关元件412与这些发光元件411并联连接为例作说明，然而其并非是限制性的。

发光元件411例如可为一发光二极管或一冷阴极荧光灯。在本实施例中，发光元件411以发光二极管为例作说明，然而其并非是限制性的。开关元件412例如为双极晶体管(BJT)或金属-氧化物-半导体场效应晶体管(MOSFET)，在本实施例中，开关元件412以MOSFET作说明。

检测控制电路5检测发光电路4的功率、或电压、或电流、或开关状态。其中，功率例如为发光电路4的电功率或发光功率，电压或电流为发光电路4的端电压大小或电流大小，而开关状态为这些开关元件412的开关状态。

因此，当检测控制电路5检测到发光电路4的功率、或电压、或电流小于等于一阈值时，检测控制电路5即可使电源供应电路3停止供应电流I至发光电路4。