[发明专利]模拟多个存储装置的测试装置及其测试方法

权利要求书

1.一种模拟多个存储装置的测试装置，用以测试计算机装置的多个第一存储装置连接器，上述计算机装置通过上述这些第一存储装置连接器发出多个第一存取指令至上述测试装置，以模拟对上述这些存储装置的多个存取区段执行存取操作，其特征是，上述测试装置包括：

多个第二存储装置连接器，用以耦接上述这些第一存储装置连接器，且接收上述这些第一存取指令；

控制单元，分别耦接上述这些第二存储装置连接器；以及

测试存取区段，耦接上述控制单元，且用以模拟上述这些存取区段，使得上述控制单元响应上述这些第一存取指令，并对上述测试存取区段执行上述这些第一存取指令的存取操作。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，上述这些存取区段分别具有第一存取地址，上述测试存取区段具有第二存取地址，上述控制单元映射上述这些第一存取指令的上述第一存取地址至上述第二存取地址，以于上述测试存取区段执行上述这些第一存取指令的存取操作。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，上述测试装置还包括接口转换单元，分别耦接上述这些第二存储装置连接器与上述控制单元，且用以转换上述这些第一存取指令为多个第二存取指令。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征是，上述这些第一存取指令为串行接口指令，上述这些第二存取指令为并行接口指令。

5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，上述这些第一存取指令包括多个写入指令或多个读取指令。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，上述测试存取区段与上述控制单元整合在可编程逻辑门阵列芯片中。

7.一种测试方法，用以测试计算机装置的多个第一存储装置连接器，上述计算机装置通过上述这些第一存储装置连接器发出多个第一存取指令，以模拟对上述这些存储装置的多个存取区段执行存取操作，其特征是，上述测试方法包括：

接收上述这些第一存取指令；以及

响应上述这些第一存取指令，以对用以模拟上述这些存取区段的测试存取区段执行上述这些第一存取指令的存取操作。

8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征是，上述这些存取区段分别具有第一存取地址，上述测试存取区段具有第二存取地址。

9.根据权利要求8所述的测试方法，其特征是，于上述响应上述这些第一存取指令，以对用以模拟上述这些存取区段的测试存取区段执行上述这些第一存取指令的存取操作的步骤中还包括：

映射上述这些第一存取指令的上述第一存取地址至上述第二存取地址，以于上述测试存取区段执行上述这些第一存取指令的存取操作。

10.根据权利要求7所述的测试方法，其特征是，上述测试方法还包括：

转换上述这些第一存取指令为多个第二存取指令，其中上述这些第一存取指令为串行接口指令，上述这些第二存取指令为并行接口指令。

11.根据权利要求7所述的测试方法，其特征是，上述这些第一存取指令包括多个写入指令或多个读取指令。

12.根据权利要求7所述的测试方法，其特征是，上述测试方法还包括：

判断写入的数据与读出的数据是否一致，以判断上述这些第一存储装置连接器是否正常。