[发明专利]电路板测试方法及装置有效
申请号: | 200810178413.3 | 申请日: | 2008-11-24 |
公开(公告)号: | CN101408582A | 公开(公告)日: | 2009-04-15 |
发明(设计)人: | 徐建龙;郑伟建;夏晓麟 | 申请(专利权)人: | 浙江中控技术股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 逯长明 |
地址: | 310053浙江省杭州市滨*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电路板 测试 方法 装置 | ||
1.一种电路板测试装置,其特征在于,该装置包括:微处理器单元、信号源单元、测试操作台、数据分组单元;其中,
微处理器单元,用于根据电路板上当前所需测试走线及测试内容,控制信号源单元向电路板上相应的走线输出测试信号,以及控制数据分组单元对所述当前所需测试走线输出的信号进行测试;还用于对数据分组单元发来的测试后得到的信号进行分析处理,得到所需测试走线的状态信息;
其中,所述分析处理包括:将获得的所述测试后得到的信号与一样本数据进行逐位比较,数据相同的数据位,该数据位对应的走线状态为未发生故障;而数据不相同的数据位,该数据位对应的走线状态为故障;其中,所述样本数据为所述所需测试走线均未发生故障时对其输出的信号测试后得到的信号;
信号源单元,用于在微处理器单元控制下向测试操作台上所安装电路板的相应走线发送测试信号;
测试操作台,用于为所需测试的电路板提供连接信号源单元和数据分组单元的接口;
数据分组单元,用于在微处理器单元控制下,对所述所需测试走线输出的信号进行测试,并将测试后得到的信号发送给微处理器单元。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述数据分组单元还用于:在微处理器单元控制下,使用与所述所需测试走线类型相适应的测试方法进行所需测试走线的所述测试;相应的,
微处理器单元进一步用于:根据所需测试走线的类型,控制数据分组单元使用与所述所需测试走线类型相适应的测试方法进行所需测试走线的所述测试。
3.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,该装置还包括:
结果显示单元,用于将微处理器单元分析处理得到的走线的状态信息向用户显示。
4.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,该装置还包括:
接口转换单元,用于进行数据分组单元与测试操作台之间的接口转换。
5.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,微处理器单元包括:模拟开关控制单元、模拟开关单元以及数据输入处理单元;其中,
模拟开关控制单元,根据电路板上当前所需测试的走线、测试内容以及走线类型,控制模拟开关单元中各个模拟开关的开关状态;
模拟开关单元,用于通过自身所包含各个模拟开关的开关状态的改变,控制信号源单元向电路板上相应的走线输出高低电平测试信号,以及控制数据分组单元选择当前所需测试的走线以及与所需测试走线相适应的测试方法;
数据输入处理单元,用于对数据分组单元发来的所述测试后得到的信号进行分析处理,得到所需测试走线的状态信息。
6.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,数据分组单元包括:电源线测试单元、一对一走线方式测试单元、以及一对多走线方式测试单元;其中,
电源线测试单元,用于对电路板中电源线输出的信号进行测试;
一对一走线方式测试单元,用于对电路板中一对一走线输出的信号进行测试;
一对多走线方式测试单元,用于对电路板中一对多走线输出的信号进行测试。
7.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述结果显示单元进一步包括:简易显示单元和/或详细显示单元;其中,
简易显示单元,用于根据所述状态信息使用蜂鸣器和/或LED灯进行走线状态信息的显示;
详细显示单元,用于直接将电路板中走线的所述状态信息进行输出显示。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,该装置包括:
通讯单元,用于将所述状态信息转发给详细显示单元。
9.一种电路板测试方法,其特征在于,该方法包括:
根据电路板上当前所需测试走线、测试内容向电路板中相应走线的一侧输入测试信号;
对所述当前所需测试走线输出的信号进行测试;
将测试后得到的信号进行分析处理,得到所述所需测试走线的状态信息;
其中,所述分析处理具体为:
将获得的所述测试后得到的信号与一样本数据进行逐位比较,数据相同的数据位,该数据位对应的走线状态为未发生故障;而数据不相同的数据位,该数据位对应的走线状态为故障;其中,
所述样本数据为所述所需测试走线均未发生故障时对其输出的信号测试后得到的信号。
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