[发明专利]轮胎均一性分析系统及其分析方法

说明书

技术领域

本发明涉及轮胎均一性分析系统及其分析方法，具体而言，涉及能够正确且迅速地分析轮胎的均一性的均一性分析系统及其分析方法。

背景技术

一般地，在轮胎制造技术上、成型工序中，将构成轮胎的内衬、带束、胎体、侧壁、胎面等半制品层叠按压固定在圆筒形旋转滚筒上，并形成与完成品的轮胎形状接近的胎坯。成型后的胎坯经高温高压的硫化工序，成为具有完成品的形状和物理性质的完成品轮胎。

之后，在检查工序中，经历通过均一性检查来测量轮胎品质的阶段。

在轮胎的均一性不良的情况下，会给轮胎带来振动、噪音、磨损等从而会带来使乘车感下降以及轮胎寿命减少的问题，因此，可以说轮胎的均一性是非常重要的品质基准。

为了判断这样的轮胎的均一性，在以往采用点扫描(point scan)方式，但点扫描方式在利用激光指标器一个一个地对轮胎的表面进行扫描时进行一次测量的测量时间很长，且存在因测量时的周围环境而产生误差的概率大的缺点。

发明内容

于是，本发明目的在于提供一种通过缩短轮胎均一性检查时间，并免受外部环境的影响，能够正确且迅速地检查轮胎的均一性的轮胎均一性分析系统以及其方法。

用于实现上述目的的本发明涉及的轮胎均一性分析系统构成为：光源，其用于对轮胎照射光的；正弦(sin)衍射光栅，其配置在上述轮胎和光源之间；拍摄单元，其对显示了由透过上述正弦衍射光栅的光源而形成的正弦图案的上述轮胎进行拍摄；以及分析设备，其对上述拍摄单元拍摄到的轮胎的正弦图案进行分析来判断上述轮胎的均一性。

还可以包括安装了上述正弦衍射光栅的透镜。

形成于上述轮胎上的正弦图案，用表示照射光的强度的下面的数学式1来表示，

数学式1

I＝A(x，y)sin(φ(x，y)+1)

上述分析设备通过将上述数学式1进行傅立叶变换以及简化而变换为下面的数学式4，

数学式4

F(I(x,y))=12[F(Aexp(iφ))]]]>

通过将上述数学式4进行逆傅立叶变换就能够计算出轮胎表面的相位信息。

上述分析设备能够输出按照上述轮胎的位置用色调等级表示上述相位信息的图像，或能够按照上述轮胎的位置将上述相位信息数值化并进行显示。

上述分析设备将未变形的轮胎的相位信息和变形了的轮胎相位信息之差变换为位移并计算出轮胎的实际变形量，从而能够利用图像或数值来表示上述实际变形量。

本发明的目的通过如下的步骤能够完成：照射步骤，对轮胎的表面照射透过了正弦衍射光栅的光源；拍摄步骤，对显示了利用上述正弦衍射光栅所形成的正弦图案的上述轮胎的表面进行拍摄；以及分析步骤，对拍摄的上述轮胎的表面图像进行分析并分析上述轮胎的均一性。

附图说明

图1是本发明涉及的轮胎均一性分析系统的构成图。

图2是利用图1的拍摄单元所拍摄到的轮胎的图像。

图3是将图2的图像进行傅立叶变换所获得的图像。

图4是对图3的图像进行修正所的到的图像。

图5是表示轮胎表面的相位信息的画面。

图6是利用图1的拍摄单元拍摄到的变形前的轮胎的图像。

图7是利用图1的拍摄单元拍摄到的变形后的轮胎的图像。

图8是表示图6和图7的轮胎的变形前后的变形量的画面。

具体实施方式

下面将基于附图对这样的本发明进行更详细的说明。

在下面的说明中，在判断对相关联的公知功能或构成所进行的具体的说明将影响本发明的宗旨的情况下，将省略其详细的说明。另外，后述的用语是考虑到本发明的功能后定义的用语，它们随使用者、操作者的意图或惯例等的不同而变化。因此，各用语的含义必须基于本说明书整体的内容来进行解释。