[发明专利]记录方法和光盘装置无效

专利信息
申请号: 200810179070.2 申请日: 2008-11-27
公开(公告)号: CN101471089A 公开(公告)日: 2009-07-01
发明(设计)人: 和田康宏 申请(专利权)人: 日立乐金资料储存股份有限公司
主分类号: G11B7/0045 分类号: G11B7/0045;G11B7/125
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 代理人: 龙 淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 记录 方法 光盘 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及记录方法和光盘装置,尤其是适用于与设置有多个记 录层的多层光盘对应的光盘装置的记录方法。

背景技术

现有技术中,在光盘装置中,在光盘记录数据时,进行被称作OPC (Optimum Power Calibration:最佳功率校准)的记录功率的调整处理 (记录功率调整处理)。在OPC中,在设置在光盘的最内周或最外周 的试写区域中试写规定的数据,基于该试写的数据的再现波形检测出 最适当的记录功率(以下,将其简单地称作最佳记录功率)。

但是,由于这样的OPC在数据的记录开始之前进行,所以不能够 与伴随记录开始后的环境变化或光盘上的记录位置的变化的最佳记录 功率的变化对应。这里,作为与这样的最佳记录功率的变化对应的记 录功率控制方法,近年来,提出了称作即时OPC(walking OPC)的方 式。

即时OPC方式是,每隔一定间隔或者每隔一定时间停止记录对记 录终端部进行再现,并且评价该记录终端部的数据的记录品质,根据 评价结果修正记录功率的方式。基于这样的即时OPC方式的记录功率 控制,由于能够确保保证再现互换的高记录品质,所以近年来得到广 泛应用。

在上述即时OPC方式中,作为记录品质的指标,使用表示振幅的 非对称性的称作β值的参数。并且,在即时OPC方式中,根据预先设 定的作为目标的β值(以下,适当地称作目标β值)、和通过在每隔一 定间隔或者每隔一定的时间再现记录终端部而得到的β值(以下,适 当地称作测定β值)计算出记录功率的修正率,根据该修正率进行记 录功率的修正。

在JP Patent No.3720624,WO 2005/31718,JP-A-2007-164954和 JP-A-2005-259257中公开了关于OPC的技术。

但是,近年来,伴随着光盘的大容量化,从光拾取器以脉冲状发 射的激光的脉冲宽度变得非常细。因此,当在这样的光盘中记录信息 时,为了抑制抖动(jitter)的发生,需要称作偏移试写的最佳记录脉 冲的检测处理。

在这样的偏移试写处理中,通过一点一点使记录脉冲的上升端或 下降端向减少或者增加脉冲宽度的方向偏移的同时进行多次试写,并 检测出能够获得抖动最少的再现信号的记录脉冲的上升端或下降端的 偏移方向和偏移量(以下将其称作最佳脉冲状态),在上述试写区域中 进行规定长度(例如2T或4T)的记录标记(マ—ク)。

在该情况下,上述偏移试写,由于如上所述试写多个记录标记并 计测再现信号的抖动,与例如按照每一层大约1秒进行的OPC相比需 要更多的时间(例如大约10秒)。另外光盘为多层光盘的情况下,由 于需要在各记录层分别进行OPC和偏移试写,因此与记录层是1层的 光盘相比需要更多的时间。

并且,近年来,以在光盘的最内周和最外周设置的双方的试写区 域中进行OPC和偏移试写的方式构成的光盘装置也在市场上出现。在 这样的光盘装置中,被安装的光盘为多层光盘的情况下,如果包括从 最内周的试写区域向最外周的试写区域或者从最外周的试写区域向最 内周的试写区域的查找时间,则在OPC和偏移试写时需要相对于通常 的多层光盘所需时间的几倍以上的时间。

该结果存在以下问题,上述光盘装置,在从主计算机接受书写请 求直到返回书写准备完成的响应的期间在主计算机侧有可能发生超时 (タイムアウト)。另外,像这样在书写准备时需要很多时间的情况下, 会存在给用户带来不愉快的问题。

发明内容

本发明鉴于以上的问题而完成,提供能够大幅度缩短书写准备的 时间的记录方法和光盘装置。

为了解决上述问题,本发明提供一种记录方法,其是在具有多个 记录层的多层光盘中记录信息的记录方法,其包括:第一步骤,在上 述多层光盘的各上述记录层中执行进行记录功率的调整的记录功率调 整处理,并且仅对于各上述记录层中的一部分的上述记录层执行对记 录脉冲的脉冲状态进行调整的偏移试写处理;第二步骤,基于上述记 录功率调整处理的处理结果和上述偏移试写处理的处理结果,预测没 有执行上述偏移试写处理的各上述记录层中的偏移试写处理的处理结 果;和第三步骤,基于上述偏移试写处理的处理结果或者预测结果调 整上述记录脉冲的脉冲状态,并且在上述多层光盘对应的上述记录层 中记录上述信息。

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