[发明专利]光拾取器装置和光盘装置无效
申请号: | 200810179132.X | 申请日: | 2008-11-25 |
公开(公告)号: | CN101471100A | 公开(公告)日: | 2009-07-01 |
发明(设计)人: | 山崎和良 | 申请(专利权)人: | 日立视听媒介电子股份有限公司 |
主分类号: | G11B7/135 | 分类号: | G11B7/135;G11B7/09;G11B7/13 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙 淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 拾取 装置 光盘 | ||
技术领域
本发明是涉及光拾取器装置和光盘装置的发明。
背景技术
作为本技术领域的背景技术,例如有专利文献1(特开2004-281026号公报)。在本专利文献1中,作为课题记载有“将TE信号振幅的变动量定义为ΔPP=(振幅a-振幅b)/(振幅a+振幅b),利用上述的现有结构检测TE信号的情况下,变量ΔPP为0.69,偏差oft1为+33nm,偏差oft2为-33nm,显示较大的值。像这样当TE信号振幅的变动量ΔPP较大变动时,在轨道Tn-1和Tn上跟踪控制的获益降低,跟踪控制变得不稳定,存在不能够可靠性高地进行记录和再现信息的问题”。作为解决方法记载有“本发明的其它的光信息装置的特征在于,包括:射出光束的光源;将从上述光源射出的光束聚光在具有轨道的光存储介质上的聚光单元;将由所述光存储介质反射·衍射的光束分支的分支单元;由多个区域将上述被分支的光束分割的分割单元;具有多个用于检测由上述分割单元分割的光束,并根据检测的光量输出电流信号的检测区域的光检测单元;将从上述光检测单元输出的电流信号变换成电压信号的多个变换单元;和跟踪误差信号生成单元,其在配置于上述分割单元中的多个区域中,将主要包括跟踪误差信号成分的区域作为第一区域,将主要包括跟踪误差信号的偏移成分的区域作为第二区域,从由第一区域获得的电压信号,将由上述第二区域获得的电压信号附加系数并减去而生成跟踪误差信号,与通过上述第一区域的光束到达上述光检测单元的效率相比,通过上述第二区域的光述到达上述光检测单元的效率高。”
发明内容
由于光拾取器装置,一般对光盘内某规定的记录轨道上正确地照射光点,通过聚焦误差信号的检测使物镜变位到焦点方向向焦点方向进行调整,此外检测跟踪误差信号使物镜向盘状记录介质的半径方向变位进行跟踪调整。利用这些信号进行物镜的位置控制。
在专利文献1中记载有对光盘上照射一个光束,利用衍射光栅分割并检测由盘产生的衍射光。由此即使是两层盘也能够进行稳定的跟踪控制。但是,在如专利文献1那样的结构中存在会在聚焦误差信号中产生噪声的问题。
在此,本发明的目的是提供减低聚焦误差信号的噪声,对于具有两层以上的记录面的盘能够进行稳定的焦点控制和跟踪控制的光拾取器装置或光盘装置。
上述目的能够通过权利要求的范围中记载的发明而实现。简单说明在本申请中揭示的发明中具有代表性的内容的概要如下。
依照本发明的光拾取器装置,其包括:半导体激光器;用于将从该半导体激光器射出的光束聚光并照射到光盘上的物镜;为使聚光后的所述光束照射到所述光盘上的规定的位置而使所述物镜移动的致动器;和接受从所述光盘上的轨道衍射后的所述光束的光检测器,所述光检测器具有受光部,该受光部包括第一区域、第二区域、第三区域、第四区域这四个区域,所述第一区域和第三区域相对于所述受光部的中心轴为轴对称,所述第二区域和第四区域相对于所述受光部的中心轴为轴对称,所述第二区域和第四区域从所述受光部的中心轴离开也具有相同宽度,或随着离开而宽度变窄,在由所述光盘上的轨道衍射的衍射光中,0次衍射光入射在所述第一区域、第三区域,0次、±1次衍射光入射在所述第二区域、第四区域,利用由所述第一区域、第三区域检测的信号生成从所述光盘得到的基于象散方式的聚焦误差信号。
依据本发明能够提供,在对具有多个信息记录面的信息记录介质进行记录再现的情况下,能够获得稳定的伺服信号的光拾取器装置和搭载该光拾取器装置的光盘装置。
附图说明
图1是说明象散方式的聚焦误差信号检测的图。
图2是说明象散方式的聚焦误差信号检测的图。
图3是说明聚焦误差信号检测的漏入的图。
图4是说明聚焦误差信号检测的漏入的图。
图5是说明实施例1的光拾取器装置和光盘的配置的图。
图6是说明实施例1的本发明的光学系统的图。
图7是表示实施例1的本发明的受光部的图。
图8是表示实施例1的图7以外的受光部的图。
图9是说明实施例2的本发明的光学系统的图。
图10是表示实施例2的本发明的衍射光栅面的图。
图11是表示实施例2的本发明的检测部的图。
图12是表示实施例2的图10以外的衍射光栅面的图。
图13是表示实施例3的本发明的检测部的图。
图14是表示实施例4的本发明的检测部的图。
图15是表示实施例5的本发明的检测部的图。
图16是表示实施例5的本发明的部分波长板的图。
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