[发明专利]热堆式红外线检测装置无效
申请号: | 200810179567.4 | 申请日: | 2008-12-04 |
公开(公告)号: | CN101581605A | 公开(公告)日: | 2009-11-18 |
发明(设计)人: | 川口浩二;木村亲吾;田中基树 | 申请(专利权)人: | 日本陶瓷株式会社 |
主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00;G01J5/06 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 张敬强 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 热堆式 红外线 检测 装置 | ||
技术领域
本发明涉及具有硅滤光片或硅透镜的热堆式红外线检测装置。
背景技术
以往所使用的一般的热堆式红外线检测装置为了提高周围的环境温度变化时的检测温度精度,通过使热堆式红外线检测装置具备由铝、铜等构成的散热器而增加热堆式红外线检测装置的热容,对于周围的环境温度变化,通过抑制热堆式红外线检测装置的温度变化来提高检测温度精度。
另外,作为其他方法的特征在于,在热堆式红外线检测装置的前面具备由红外线透射性的高密度聚乙烯构成的盖或滤光片,利用由盖内部的空气层引起的绝热效果来抑制热堆式红外线检测装置的温度变化,通过使在热堆式红外线监测器内与搭载的自身温度测温用的热敏电阻另外具备的热敏电阻与由高密度聚乙烯构成的盖或滤光片接触而进行测温,对热堆式红外线检测装置的检测温度进行修正。
在现有技术中,由于作为散热器以增加热堆式红外线检测装置具备的热容的目的而使用热导性高的材质、铝或铜等金属材料,因此成为热堆式红外线检测装置的成本上升的主要原因。
图3表示现有的具备由铝等构成的散热器的热堆式红外线检测装置的斜视方向概略图。对于安装部件,由于图变得烦杂而省略。图4表示内部剖面构造概略图。
为了提高热堆式红外线检测装置周围的环境温度变化时的检测温度精度,利用热堆式红外线检测装置所具备的由铝或铜构成的金属制的散热器增加热容,使用热导性高的金属材料,从而抑制热堆式红外线检测装置自身的温度变化,并抑制热堆式红外线检测装置自身的温度不均,以此作为对策来进行。
然而,由铝或铜构成的金属制的散热器由于材料自身为热导性高且有稀少价值的金属、需要按照目的形状来实施加工、以及要追加用于搭载在热堆式红外线检测装置的装入的操作性,因此导致热堆式红外线检测装置自身的成本上升。
另一方面,图5表示现有的高密度聚乙烯制盖及测温用热敏电阻搭载型的热堆式红外线检测装置的概略图。
在该技术中,由于需要另外设置测温用热敏电阻、以及要追加用于设置在热堆式红外线检测装置的装入的操作性,因此也导致热堆式红外线检测装置自身的成本上升。
发明内容
本发明为了提高热堆式红外线检测装置周围的环境温度变化时的检测温度精度,废除了由铝或铜构成的金属制的散热器的设置、以及由红外线透射性的高密度聚乙烯构成的盖或滤光片的热敏电阻中的测温构造,并且其特征在于,通过将热堆式红外线检测装置用在开口部具备硅滤光片的由树脂或金属构成的外壳及罩来储藏,用空气层绝热外壳外部的环境温度变化影响。而且,其特征在于,硅滤光片不仅可以使用无涂覆平面硅滤光片,还可以使用追加了5μm切割涂覆特性、8~14μm带通涂覆特性或防反射蒸镀涂覆特性等的蒸镀涂覆特性的硅滤光片。
本发明具有以下效果。
本发明在热堆式红外线检测装置中,通过具备储藏热堆式红外线检测装置的由树脂或金属构成的外壳及罩,以及在外壳开口部具备硅滤光片,能够提高热堆式红外线检测装置周围的环境温度变化时的检测温度精度。
并且,通过使用追加了蒸镀涂覆特性的硅滤光片,在太阳光等扰乱光、车头灯等的强有力的可见光能量等的外来干扰中能够进行截断。
另外,通过能够消除由铝或铜构成的金属制的散热器,或者能够消除高密度聚乙烯制盖及测温用热敏电阻,可以降低成本。
附图说明
图1是作为本发明的最基本的实施例的在储藏热堆传感器型红外线检测装置的由树脂构成的外壳及罩的热堆传感器视场范围的前面外壳开口部内侧具备无涂覆平面硅滤光片的方式的斜视方向概略图。
图2是图1的内部构造剖视图。
图3是现有的散热器搭载型的热堆传感器型红外线检测装置的斜视方向概略图。
图4是图3的内部构造剖视图。
图5是现有的具备高密度聚乙烯制盖及测温用热敏电阻的热堆传感器型红外线检测装置的斜视方向概略图。
图6是作为本发明的其他实施例的在外壳开口部外侧具备无涂覆平面硅滤光片的方式的斜视方向概略图。
图7是图6的内部构造概略图。
图8是热堆式红外线监测器中的所投影的检测区域分布的模式概略图。
图9是具备平面滤光片所引起的红外线折射概略图。
图10是环境温度变化时的温度跟踪确认曲线。
图中:
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