[发明专利]一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法和装置。

背景技术

在生产调试过程中，由于信号调理电路和模拟数字转换器的离散性的存在，被控量的反馈值将出现量化误差，一般地，这种量化误差将经过闭环运算与被控量叠加，并进一步演变为输出误差或显示误差。现有的解决方法是在允许的偏差范围内，在信号调理电路中设计电位器之类的可调器件，结合检测仪器，调节可调器件使被控量对应其标准值。但是这种调节硬件电路中可调器件的现有方法存在着许多问题：1、硬件设计通常有多个信号输入输出通道，需要调节的可调器件很多，生产调试过程非常麻烦复杂，可操作性差；2、调试手段原始，不能实现远程遥控调试，如果下位机处于调试人员不能到达的环境，就无法进行调试。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法和装置，该发明既节约了硬件电路中的可调器件，又实现了远程的生产调试，提高了调试效率。

为了实现上述目的，本发明采用一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法，该方法包括以下步骤：

检测被控量的真实值；

将上述被控量的真实值与其对应的标准值作比较，若相等，则执行步骤A；否则，执行步骤B；

步骤A：操作上位机软件，向下位机发送保存参考量化值(AD_set)的指令；

步骤B：操作上位机软件，向下位机发送递增或递减参考量化值(AD_set)的指令。

本发明的方法中，所述步骤B还包括以下步骤：

若所述被控量的真实值大于与其对应的标准值，执行步骤B1；若所述被控量的真实值小于与其对应的标准值，则执行步骤B2；

步骤B1：操作上位机软件，向下位机发送参考量化值(AD_set)减1指令；

步骤B2：操作上位机软件，向下位机发送参考量化值(AD_set)加1指令。

本发明还提供了一种通过上位机对系统被控量进行调试的装置，包括上位机软件，检测仪器，下位机。

所述上位机软件，用于向下位机发送指令；

所述检测仪器，用于测量下位机被控量的真实值；

所述下位机，包括CPU，模拟数字转换器和数据储存单元。

其中，

所述CPU，用于控制运算；

所述模拟数字转换器，用于量化被控量；

所述数据储存单元，用于储存参考量化值(AD_set)。

本发明的技术方案和现有技术的主要区别在于：本发明通过修改上位机软件中的参考量化值(AD_set)，补偿被控量经信号处理电路或模拟数字转换器后出现的采样偏差，既节约了硬件电路中的可调器件，又实现了远程的生产调试，提高了调试效率。

附图说明

图1是本发明通过上位机对系统被控量进行调试的流程示意图；

图2是本发明通过上位机对系统被控量进行调试的装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述。

本发明方法的核心在于将被控量的真实值与其对应的标准值作比较，根据比较结果调节参考量化值(AD_set)，补偿被控量经信号处理电路或模拟数字转换器后出现的采样偏差。

图1是本发明通过上位机对系统被控量进行调试的流程示意图。该流程开始于步骤101。在步骤102中，调试人员使用检测仪器读取下位机被控量的真实值。在步骤103中，将步骤102的结果与其对应的标准输出值做比较。

若步骤103的结果为“大于”，则进入步骤104；若步骤103的结果为“小于”，则进入步骤105；若步骤103的结果为“等于”则进入步骤106。

在步骤104中，操作上位机软件，向下位机发送参考量化值(AD_set)减1指令，经过CPU闭环运算后，检测仪器显示该被控量的真实值减小。反复操作该步骤直至步骤103的结果为“等于”。

在步骤105中，操作上位机软件，向下位机发送参考量化值(AD_set)加1指令，经过CPU闭环运算后，检测仪器显示该被控量的真实值增大。反复操作该步骤直至步骤103的结果为“等于”。