[发明专利]溅射装置以及溅射方法有效

专利信息
申请号: 200810180530.3 申请日: 2008-11-28
公开(公告)号: CN101445915A 公开(公告)日: 2009-06-03
发明(设计)人: 山本昌裕;小岩崎刚;村岸勇夫;山西齐 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 葛 飞
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 溅射 装置 以及 方法
【权利要求书】:

1.一种溅射装置,包括:

真空腔;

靶,其被配置在所述真空腔内;

磁路,其被设置在所述靶的背面一侧,包括垂直磁体组件和平行磁体组 件;以及

基板保持件,其被配置在所述靶的表面一侧,用于保持基板,其中,

所述垂直磁体组件由中心垂直磁体和外周垂直磁体构成,在所述垂直磁 体组件的磁体内部的磁化方向都大致垂直于所述靶表面,并且在所述中心 垂直磁体与所述外周垂直磁体的磁体内部的磁化方向彼此相反,所述中心 垂直磁体设置在所述靶的背面的中央部分,所述外周垂直磁体被设置在所 述靶的背面的外周部分,并被设置成包围所述中心垂直磁体的环状,

所述平行磁体组件由内侧平行磁体和外侧平行磁体构成,在所述平行磁 体组件的磁体内部的磁化方向都大致平行于所述靶表面,并且在所述内侧 平行磁体和所述外侧平行磁体的磁体内部的磁化方向相同,所述平行磁体 组件都被设置在所述中心垂直磁体和所述外周垂直磁体之间,并被设置成 包围所述中心垂直磁体的环状,而且所述内侧平行磁体比所述外侧平行磁 体更靠近所述靶的背面的中心一侧配置,

在设所述内侧平行磁体与所述靶表面之间的间隔为D1、所述外侧平行 磁体与所述靶表面之间的间隔为D2、所述外周垂直磁体与所述靶表面之间 的间隔为D3时,具有D1<D2≤D3的关系。

2.如权利要求1所述的溅射装置,其中,所述间隔D1为30mm以下。

3.如权利要求1所述的溅射装置,其中,还具有水冷套,其被设置在所 述靶与所述磁路之间,所述磁路被配置在所述水冷套的外部。

4.如权利要求3所述的溅射装置,其中,在所述水冷套的所述磁路一侧 的一部分形成凹陷的空间,所述内侧平行磁体被设置在所述凹陷的空间。

5.如权利要求4所述的溅射装置,其中,在所述水冷套的所述磁路一侧 的一部分形成的空间被狭缝分割成多个空间,所述内侧平行磁体被设置在 所述多个空间的各个空间,所述狭缝的厚度比所述水冷套的形成有凹陷的 部分的厚度大,并且所述狭缝为水冷套的水路的一部分。

6.一种溅射装置,包括:

真空腔;

靶,其被配置在所述真空腔内;

磁路,其被设置在所述靶的背面一侧,包括垂直磁体组件和平行磁体组 件;

基板保持件,其被配置在所述靶的表面一侧,用于保持基板;以及

水冷套,其被设置在所述靶与所述磁路之间,其中,

所述磁路被配置在所述水冷套的外部,

所述垂直磁体组件由中心垂直磁体和外周垂直磁体构成,在所述垂直磁 体组件的磁体内部的磁化方向都大致垂直于所述靶表面,并且在所述中心 垂直磁体与所述外周垂直磁体的磁体内部的磁化方向彼此相反,所述中心 垂直磁体被设置在所述靶的背面的中央部分,所述外周垂直磁体被设置在 所述靶的背面的外周部分,并被设置成包围所述中心垂直磁体的环状,

所述平行磁体组件由内侧平行磁体和外侧平行磁体构成,在所述平行磁 体组件的磁体内部的磁化方向都大致平行于所述靶表面,并且在所述内侧 平行磁体和所述外侧平行磁体的磁体内部的磁化方向相同,所述平行磁体 组件都被设置在所述中心垂直磁体和所述外周垂直磁体之间,并被设置成 包围所述中心垂直磁体的环状,而且所述内侧平行磁体比所述外侧平行磁 体更靠近所述靶的背面的中心一侧配置,

在与所述内侧平行磁体对应的所述水冷套的内部设置磁性体,或者将与 所述内侧平行磁体对应的所述水冷套的一部分设置为磁性体。

7.一种溅射方法,为使用权利要求1所述的溅射装置的溅射方法,其中, 包括以下步骤:

在所述基板保持件保持被成膜体;

将溅射气体导入所述溅射装置的真空腔内;以及

对配置在所述真空腔内的靶施加电压而产生等离子,在所述基板上形成 溅射膜。

8.一种溅射方法,为使用权利要求6所述的溅射装置的溅射方法,其中, 包括以下步骤:

在所述基板保持件保持被成膜体;

将溅射气体导入所述溅射装置的真空腔内;以及

对配置在所述真空腔内的靶施加电压而产生等离子,在所述基板上形成 溅射膜。

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