[发明专利]一种嵌入式存储器的测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种嵌入式静态存储器的测试系统，所述系统包括嵌入式静态存储器的测试装置和与其相连的自动测试设备，其特征在于，所述嵌入式静态存储器的测试装置包括存储器测试控制器和与其相连的存储器测试总线接口单元，其中，

所述存储器测试控制器通过存储器控制总线、存储器地址总线和存储器输入数据总线与所述嵌入式静态存储器相连，用于根据所述自动测试设备输入的测试控制信号，进行状态转换，在相应状态下根据所述自动测试设备通过所述存储器测试总线接口单元输入的存储地址，将所述自动测试设备通过所述存储器测试总线接口单元输入的测试数据写入所述嵌入式静态存储器中，或者在其他相应状态下根据所述自动测试设备通过所述存储器测试总线接口单元输入的存储地址，控制所述存储器测试总线接口单元读取所述嵌入式静态存储器存储的测试数据并由所述存储器测试总线接口单元发送给所述自动测试设备进行验证；

所述存储器测试总线接口单元通过存储器输出数据总线和所述嵌入式静态存储器相连接，通过测试输入输出接口和自动测试设备相连，用于将所述自动测试设备发送的存储地址和测试数据发送给所述存储器测试控制器；在所述存储器测试控制器的控制下读取嵌入式静态存储器存储的测试数据，发送给所述自动测试设备进行验证；

所述存储器测试控制器根据所述自动测试设备在每个测试时钟信号的上升沿输入的测试控制信号，进行状态转换；

所述状态包括空闲状态、地址状态、预读状态、读状态、读回状态及写状态；

在地址状态下，所述存储器测试控制器解析存储地址后，通过存储器地址总线发送给所述嵌入式静态存储器； 

在读状态和读回状态下，所述存储器测试控制器通过存储器控制总线发送存储器读使能信号给所述嵌入式静态存储器，并发送存储器测试控制器测试输出信号给所述存储器测试总线接口单元，所述存储器测试总线接口单元通过存储器输出数据总线读取所述嵌入式静态存储器中存储的测试数据后，发送给自动测试设备；

在写状态下，所述存储器测试控制器通过存储器控制总线发送存储器写使能信号给所述嵌入式静态存储器，通过存储器输入数据总线将所述自动测试设备通过所述存储器测试总线接口单元发送的测试数据写入所述嵌入式静态存储器中；

所述在写状态下或读回状态下，根据不同的测试控制信号，对存储地址进行递增或递减。

2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述自动测试设备通过存储器测试总线接口单元、时钟信号总线及测试控制总线和存储器测试控制器相连接，

其中，所述自动测试设备通过所述存储器测试总线接口单元发送存储地址或测试数据，所述自动测试设备接收所述存储器测试总线接口单元读取的所述嵌入式静态存储器存储的测试数据；

所述自动测试设备通过所述时钟信号总线发送测试时钟信号给所述存储器测试控制器，并在每个测试时钟信号的上升沿通过所述测试控制总线发送测试控制信号给所述存储器测试控制器。