[发明专利]雷射测距装置及其控制方法无效

专利信息
申请号: 200810181486.8 申请日: 2008-11-11
公开(公告)号: CN101738609A 公开(公告)日: 2010-06-16
发明(设计)人: 蔡宗岳 申请(专利权)人: 亚洲光学股份有限公司
主分类号: G01S7/481 分类号: G01S7/481;G01S17/08
代理公司: 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 代理人: 高占元;王小青
地址: 中国台湾台中县潭子*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 雷射 测距 装置 及其 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种雷射测距装置,用于测量远距离及近距离的目标物,其特征在于, 包括:

发射组件,用以对该目标物发射测量光;

接收组件,用以接收该目标物反射该测量光的反射光,而对应该反射光的 强度大小,输出电信号;

反射组件,用以反射该反射光至该接收组件;

聚焦透镜,用以将该反射光通过该反射组件聚焦在该接收组件;

驱动模块,藉由转动以调整该反射组件的角度;以及

控制单元,依据该电信号与该预定值比较以控制该驱动模块是否转动。

2.如权利要求1所述的雷射测距装置,其特征在于,当该电信号低于该 预定值,该控制单元控制该驱动模块转动。

3.如权利要求2所述的雷射测距装置,其特征在于,更包括该控制单元 控制该驱动模块转动至该电信号高于该预定值。

4.如权利要求1所述的雷射测距装置,其特征在于,该反射组件固接于 该驱动模块的转轴上。

5.如权利要求1所述的雷射测距装置,其特征在于,该驱动模块是伺服 马达或步进马达。

6.一种雷射测距装置的控制方法,用于测量近距离及远距离的目标物, 其特征在于,该雷射测距装置包括发射组件、接收组件、驱动模块、反射组件、 控制单元以及聚焦透镜,该控制方法包括:

对目标物发出测量光;

接收由目标物反射的反射光,并对应输出电信号;

比较该电信号与预定值;以及

当该电信号小于该预定值时,调整该反射组件以改变该反射光的路径。

7.如权利要求6所述的雷射测距装置的控制方法,其特征在于,该接收 由目标物反射的该反射光,并对应输出该电信号,更包括藉由该聚焦透镜及该 反射组件使该反射光聚焦在该接收组件,并且该接收组件对应接收的该反射光 的亮度,输出该电信号。

8.如权利要求6所述的雷射测距装置的控制方法,其特征在于,更包括 当该电信号小于该预定值时,该控制单元发出转动信号,控制该驱动模块转动 以调整该反射组件。

9.如权利要求8所述的雷射测距装置的控制方法,其特征在于,更包括 当该电信号大于该预定值时,该控制单元停止发出该转动信号。

10.如权利要求8或9所述的雷射测距装置的控制方法,其特征在于,更 包括该电信号大于该预定值时,该控制单元依据所接收的该电信号而计算出目 标物的距离。

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