[发明专利]光学再现装置、光学记录/再现装置以及光学再现方法有效

专利信息
申请号: 200810181660.9 申请日: 2008-12-02
公开(公告)号: CN101539753A 公开(公告)日: 2009-09-23
发明(设计)人: 三锅治郎;小笠原康裕 申请(专利权)人: 富士施乐株式会社
主分类号: G03H1/22 分类号: G03H1/22;G03H1/04;G11B7/135
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 李 辉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光学 再现 装置 记录 以及 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及光学再现装置、光学记录/再现装置、以及光学再现方法。 

背景技术

近些年来,已经提出了共轴记录系统(同线系统)作为全息存储记录/再现系统。与传统的双光束干涉系统相比较,同线系统的优点在于:能够明显简化光学系统,同线系统在抵御诸如震动的外部干扰方面很强,并且易于引入伺服机制。在这种同线系统中,由空间光调制器调制并产生的信号光和参考光由同一透镜进行会聚,且使它们的光轴重合,从而把通过信号光与参考光之间的干涉而形成的干涉条纹(衍射光栅)记录在光学记录介质上成为全息图。 

通过在空间光调制器上显示对数字数据进行二维编码的信号光图案,来将数字数据叠加在信号光上。通过将参考光作为读取光照射到记录了全息图的光学记录介质上,来根据所记录的全息图再现信号光。能够根据再现的信号光来对所叠加的数字数据进行解码。 

在日本特开(JP-A)No.2006-301465中公开的全息图记录/再现装置中,光学控制元件设置在空间光调制器的光出射侧。当进行记录时,入射光透过光学控制元件,而当进行再现时,光学控制元件在与信号光相对应的区域处阻挡入射光。当进行再现时,虽然将光照射到空间光调制器的所有像素上,但是由于这个光学控制元件,消除了与信号光相对应的区域处存在的漏光,由此改善了再现特性。局部偏振滤光器等可用作所述光学控制元件。 

另一方面,提出了一种再现方法(下文中称作“负/正再现方法”),在这种再现方法中,通过在对全息图进行再现时对再现光增加DC分量,来根据一个全息图产生作为负图像和正图像的两个再现图像,并且通过 确定这两个图像之间的差别,来改善信噪比(SNR)(参考JP-ANo.2007-179595和No.2007-179597)。另外,提出了一种技术(下文中称作“相干合成方法”),在这种技术中,通过利用两个用于提供相位差的空间光调制器为工作像素提供0和π的相位差来执行记录,并且当进行再现时,通过加入π/2相位差的DC分量且引发干涉,使得再现的数据页的像素之间的干涉具有线性特征,从而改善了SNR(参考KenjiroWatanabe et al,“Linear Reproduction of a Holographic Storage Channelusing Coherent Addition”,ISOM’07,lecture number Mo-D-02)。 

所有这些技术都可用于改善SNR,并且所有这些技术都产生再现的衍射光的高阶分量与在进行再现时加入的DC分量之间的干涉,并且获得新的再现图像。加入的DC分量是在作为液晶显示器(LCD)等的空间光调制器的信号光区域中产生的。然而,很难仅通过空间光调制器同时控制“加入的DC分量”的相位和振幅(光强)。通常,由空间光调制器执行对“加入的DC分量”的相位控制。因此,需要与空间光调制器分立的用于独立于相位来控制“加入的DC分量”的振幅的结构。 

另外,在使得来自光源的光按照原样入射到形成有信号光区域和参考光区域的空间光调制器上的形式下,如果在进行再现时照射参考光作为读取光,则光也会从空间光调制器的信号光区域泄漏。例如,当被设置为透射型空间光调制器的液晶元件的精度较低时,会出现如下情况,即透过信号光图案的显示位置处的空闲像素的光变成不必要的漏光,并且被光探测器检测到,从而产生了相对于再现的信号光的噪声。 

发明内容

本发明提供了一种光学再现装置、光学记录/再现装置、以及光学再现方法,其中,在通过同线系统再现信号光的再现过程中,与将从光源发射的光照原样照射到空间光调制器的所有像素上的情况相比,本发明能够减少照射到全息图上的读取光的不必要的漏光(不必要的分量),并且能够改善再现特性。 

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