[发明专利]温度测试方法与应用其的温度测试系统有效
申请号: | 200810182073.1 | 申请日: | 2008-11-28 |
公开(公告)号: | CN101754238A | 公开(公告)日: | 2010-06-23 |
发明(设计)人: | 郑传楷 | 申请(专利权)人: | 英业达股份有限公司 |
主分类号: | H04W24/00 | 分类号: | H04W24/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 任永武 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 温度 测试 方法 应用 系统 | ||
1.一种温度测试方法,用以测量一可携式电子装置的一壳体表面的温度,并据以判断该可携式电子装置的多个功能是否异常,其特征在于该方法包括:
于该可携式电子装置的该壳体表面上决定多个温度测量位置;
从该些功能中选出一第一组测试功能及一第二组测试功能,各该第一组测试功能及该第二组测试功能包括至少部分的这些功能;
于一第一测试时段中启动该可携式电子装置的该第一组测试功能;
测量启动该第一组测试功能后的这些温度测量位置的温度,并将测量结果储存为对应的一第一组温度数值;
依据该第一组温度数值判断该第一组测试功能是否符合一预设条件;
于一第二测试时段中启动该可携式电子装置的该第二组测试功能;
测量启动该第二组测试功能后的这些温度测量位置的温度,并将测量结果储存为对应的一第二组温度数值;
依据该第二组温度数值判断该第二组测试功能是否符合该预设条件;以及
若该第一组测试功能与第二组测试功能皆符合该预设条件,则判断该第一组测试功能及该第二组测试功能是否具有相同的至少一个功能,若是,则判定该第一组测试功能与该第二组测试功能所具有的相同的该至少一个这些功能是异常。
2.根据权利要求1所述的温度测试方法,其特征在于判断该第一组测试功能是否符合该预设条件的步骤包括:
判断该第一组温度数值的其一是否达到一第一峰值;
若该第一组温度数值的该其一达到该第一峰值,则判断该第一组温度数值的该其一是否还达到一第二峰值且维持一预设时段;以及
若该第一组温度数值的该其一达到该第二峰值且维持该预设时段,则判定该第一组测试功能符合该预设条件。
3.根据权利要求1所述的温度测试方法,其特征在于判断该第二组测试功能是否符合该预设条件的步骤包括:
判断该第二组温度数值的其一是否达到一第一峰值;
若该第二组温度数值的该其一达到该第一峰值,则判断该第二组温度数值的该其一是否还达到一第二峰值且维持一预设时段;以及
若该第二组温度数值的该其一达到该第二峰值且维持该预设时段,则判定该第二组测试功能符合该预设条件。
4.根据权利要求1所述的温度测试方法,其特征在于选择该第一组测试功能及该第二组测试功能的步骤包括:
排列组合这些功能,以产生多组测试功能;以及
从这些组测试功能选择两组测试功能,以作为该第一组测试功能及该第二组测试功能。
5.根据权利要求1所述的温度测试方法,其特征在于于判断该第一组测试功能及该第二组测试功能是否具有相同的至少一个测试功能的步骤中,若该第一组测试功能及该第二组测试功能不具有相同的至少一个测试功能,则该方法还包括:
则判定该第一组测试功能与该第二组测试功能所包含的这些功能是异常。
6.根据权利要求1所述的温度测试方法,其特征在于还包括:
依照时间顺序,连续记录所测量的该第一组温度数值及该第二组温度数值。
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