[发明专利]免保护膜的光学集光组件无效
申请号: | 200810182741.0 | 申请日: | 2008-12-04 |
公开(公告)号: | CN101414019A | 公开(公告)日: | 2009-04-22 |
发明(设计)人: | 林博文;胡瑞楷 | 申请(专利权)人: | 长兴化学工业股份有限公司 |
主分类号: | G02B5/02 | 分类号: | G02B5/02;G02B5/00;G02F1/13357;G02B1/10 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 何文彬 |
地址: | 台湾省高雄*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 保护膜 光学 组件 | ||
技术领域
本发明涉及一种集光组件,尤指一种可应用于液晶显示器中的光学集光组件。
背景技术
液晶显示器(简称「LCD」)的主要结构包含面板与背光模块两大部分,其中,面板部分包括透明电极板、液晶、配向膜、彩色滤光片、偏光片以及驱动集成电路等,而背光模块的部分包含灯管、导光板以及各种光学膜片等,背光模块的目的主要在于提供液晶显示器所需的光源。
为了提升液晶显示器的亮度、减少热量蓄积及降低光源能量损耗,目前业界最常使用的方法为在背光模块中使用各式各样的集光组件,例如3M所发展的增亮模(Brightness Enhancement Film,BEF)或棱镜片(prism film),其是在厚度仅25~250μm的聚酯光学薄膜上利用高能UV光将特殊压克力树脂硬化成微细棱镜结构。而集光组件最主要的功能在于通过折射与内部全反射将自导光板(lightguide)或扩散板发出至四面八方散乱的光线收集,并集中至约±35度的正视角(On-axis)方向,以提高LCD的辉度。
但目前集光组件在实际的使用上仍会遇到一些问题。例如,如图1所示的集光组件10,其基材11上表面大都具有聚光结构12,若此聚光结构12的表面没有进行任何的保护处理,在后续的搬放运送过程中或是裁切过程时,便很容易因操作不慎而产生刮伤或磨损,如此便会使得集光组件的光学效果受到影响。
而目前业界一般的解决方法,如图2所示,在基材上表面的聚光结构12贴上一层上保护膜14,且在基材下表面贴上一层下保护膜13来防止刮伤,这种方法具有增加成本和制程复杂的缺点。另外业界中也有在聚光结构的另一侧涂布一层具有凹凸起伏结构9的硬罩层(hard coating)8a的方式,或如图3a所示,此方法虽可以保护基材下表面免被聚光结构12所刮伤,但却会造成聚光结构本体被破坏5(参图3b),进而影响光学效果。
发明内容
综上所述,本发明提供一种免保护膜的光学集光组件,通过控制集光组件上下表面的摩擦系数在特定范围内,不需贴附保护膜即可达到防刮的效果,且可维持良好的辉度。
本发明的主要目的在于提供一种免保护膜的光学集光组件,其包含(a)基材;(b)位于基材一侧的第一表面,此第一表面具有聚光结构;及(c)位于基材另一侧的第二表面,其中所述第一表面和第二表面间的最大静摩擦系数,根据JIS K7125标准方法测量,是介于0.3至0.7之间。
附图说明
图1为现有技术的集光组件简单示意图;
图2为现有技术的包含保护膜的集光组件简单示意图;
图3a与3b为现有技术的包含保护膜的集光组件简单示意图;
图4为本发明光学集光组件的一实施例的示意图;
图5为本发明光学集光组件的另一实施例的示意图;
图6为本发明光学集光组件的又一实施例的示意图;
图7为本发明光学集光组件的再一实施例的示意图。
具体实施方式
在本文中所使用的用语仅为描述所述的实施例,并非用以限制本发明保护范围。举例言之,说明书中所使用的用语“一”,除非文中另有明确的解释,否则用语“一”是涵盖单数及多数形式。
在本文中,柱状结构是指多峰柱状结构或单峰柱状结构。多峰柱状结构是指由至少两个柱状结构彼此重迭所形成的联集结构,且任何两相邻柱状结构间的谷线的高度是为此二相邻柱状结构中高度较低者的高度的30%至95%;单峰柱状结构则指由单个柱状结构所构成且仅具有单一峰的结构。
在本文中,棱镜柱状结构是由两个倾斜表面所构成,所述倾斜表面可为曲面或平面,且所述二倾斜表面于棱镜顶部相交形成峰,且可各自与相邻柱状结构的另一倾斜表面在底部相交形成谷。
在本文中,弧形柱状结构是由两个倾斜平面所构成,此二倾斜平面顶部相交处系钝化形成一曲面,且此二倾斜平面可各自与相邻柱状结构的另一倾斜表面在底部相交形成谷。
在本文中,线性柱状结构是定义为柱状结构的棱线(ridge)呈直线延伸的柱状结构。
在本文中,曲线柱状结构是定义为柱状结构的棱线呈弯曲变化延伸的柱状结构,所述弯曲延伸棱线系形成适当的表面曲率变化,所述弯曲延伸棱线的表面曲率变化是以所述曲线柱状结构高度为基准的0.2%至100%,优选为所述曲线柱状结构高度为基准的1%至20%。
在本文中,铅笔硬度是指待测样品表面为一平面,以Mitsubishi铅笔,根据JISK-5400标准方法测量,所测得的硬度。
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