[发明专利]帧间差分过采样重构方法及在微扫描显微热成像中的应用无效

专利信息
申请号: 200810183261.6 申请日: 2008-12-12
公开(公告)号: CN101430295A 公开(公告)日: 2009-05-13
发明(设计)人: 金伟其;高美静;王霞;陈艳;李福文;徐超;王岭雪 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01N25/72 分类号: G01N25/72;G01N25/00;G01N33/48;G01R31/303
代理公司: 北京理工大学专利中心 代理人: 张利萍
地址: 100081北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 帧间差分 采样 方法 扫描 显微 成像 中的 应用
【权利要求书】:

1、帧间差分过采样重构方法,其特征在于:

(1)当已知4幅非标准2×2微扫描欠采样图像

Y=[g1(i,j),g2(i,j),g3(i,j),g4(i,j)],并由微位移计算出位移矩阵A-1,则有

X=A-1Y                 (1)

X=[x1,x2,x3,x4]=[O(2i-1,2j-1),O(2i,2j-1),O(2i-1,2j),O(2i,2j)]

其中,A-1=A*detA,]]>A’为A的伴随矩阵。

A-1=a12w1+a22w2+a32w3000-a11w1-a21w2-a31w3w1w2w3-a11w4-a21w5-a31w6w4w5w6-a11w7-a21w8-a31w9w7w8w9detA---(2)]]>

w1=a23a34-a24a33

w2=a14a33-a13a34

w3=a13a24-a14a23

w4=a24a32-a22a34

其中,w5=a12a34-a14a32                  (3)

w6=a14a22-a12a24

w7=a22a33-a23a32

w8=a13a32-a12a33

w9=a12a23-a13a22

而det A=a12a23a34-a12a24a33-a13a22a34+a13a24a32+a14a22a33-a14a23a32         (4)

则由方程(1)可以得到等效的4幅标准2×2微扫描欠采样图像,即得到微位移位置为正立正方形的图像;

(2)利用(1)的4幅标准2×2微扫描欠采样图像通过直接插值法得到过采样高分辨力图像。

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