[发明专利]用于检测玻璃基板的不平坦的检测装置和方法

权利要求书

1.一种检测玻璃基板的不平坦的检测装置，该检测装置包括：

发射光的光源；

使所述光偏振的偏振器；

标准单元，其包括相对的外表面，所述玻璃基板被接合到所述标准 单元的所述相对的外表面之一，经偏振的光通过所述标准单元和所述玻 璃基板，其中所述标准单元包括第一基板和第二基板、所述第一基板和 所述第二基板之间的液晶层、以及在所述第一基板和第二基板的外围区 域中并接合所述第一基板和第二基板的密封图案；

分析器，其检测和分析通过所述标准单元和所述玻璃基板的光，并 且在所述光源相对于所述标准单元和所述玻璃基板移动以扫描所述玻璃 基板的预定方向上检测所述玻璃基板和所述标准单元的组合的延迟值；

存储部分，其将所检测到的所述玻璃基板和所述标准单元的组合的 延迟值存储到数据库中，

其中，所述光源是发射激光束的激光器，并且所述分析器比较所述 延迟值与所述标准单元在所述预定方向上的基准延迟值。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，该激光束具有大于0mm到 大约5mm的光斑尺寸。

3.根据权利要求1所述的装置，其中所述标准单元还包括保持所述 第一基板和所述第二基板之间的单元间隙的间隔体，并且其中所述第一 基板包括第一玻璃基板、在所述第一玻璃基板的内表面的外围区域中的 多个第一对准键、以及在所述第一玻璃基板的所述内表面上的黑底。

4.根据权利要求3所述的装置，其中第一电极在所述第一玻璃基板 的外表面上或在所述黑底上。

5.根据权利要求3所述的装置，其中所述第二基板包括第二玻璃基 板、以及在所述第二玻璃基板的内表面上并对应于所述多个第一对准键 的多个第二对准键。

6.根据权利要求5所述的装置，其中第二电极在所述第二玻璃基板 的外表面上或在所述第二玻璃基板的所述内表面上。

7.一种检测玻璃基板的不平坦的方法，该方法包括以下步骤：

从光源发射光；

通过偏振器使所述光偏振；

使经偏振的光通过标准单元和所述玻璃基板，所述玻璃基板被接合 到所述标准单元的相对的外表面之一，其中所述标准单元包括第一基板 和第二基板、所述第一基板和所述第二基板之间的液晶层、以及在所述 第一基板和第二基板的外围区域中并接合所述第一基板和第二基板的密 封图案；

检测和分析通过所述标准单元和所述玻璃基板的光，并且在所述光 源相对于所述标准单元和所述玻璃基板移动以扫描所述玻璃基板的预定 方向上检测所述玻璃基板和所述标准单元的组合的延迟值；以及

将所检测到的所述玻璃基板和所述标准单元的组合的延迟值存储到 数据库中，

其中，所述光源是发射激光束的激光器，并且比较所述延迟值与所 述标准单元在所述预定方向上的基准延迟值。

8.根据权利要求7所述的方法，其中所述光是激光束，该激光束具 有大于0mm到大约5mm的光斑尺寸。

9.根据权利要求7所述的方法，其中所述标准单元包括第一基板和 第二基板、所述第一基板和所述第二基板之间的液晶层、以及在所述第 一基板和所述第二基板的外围区域中并接合所述第一基板和第二基板的 密封图案。

10.根据权利要求9所述的方法，其中所述标准单元还包括保持所 述第一基板和所述第二基板之间的单元间隙的间隔体，并且其中所述第 一基板包括第一玻璃基板、在所述第一玻璃基板的内表面的外围区域中 的多个第一对准键、以及在所述第一玻璃基板的所述内表面上的黑底。

11.根据权利要求10所述的方法，其中第一电极在所述第一玻璃基 板的外表面上或在所述黑底上。

12.根据权利要求10所述的方法，其中所述第二基板包括第二玻璃 基板、以及在所述第二玻璃基板的内表面上并对应于所述多个第一对准 键的多个第二对准键。