[发明专利]固态储存媒体可靠度的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试方法，特别是涉及一种储存装置的测试方法。

背景技术

固态硬盘，例如由闪存构成，其产业市场正处于起飞阶段。闪存为一 种非易失性可编程可擦除的存储储存装置。但是，闪存的生命周期受限于 擦除次数的限制。因此，使用闪存构成的固态硬盘时，其系统的可靠度便 显得十分重要。但是，可靠度的验证又需要依靠固态硬盘的使用者(client) 端的测试工具来进行测试。

目前固态硬盘的可靠度测试并没有标准方法，而各厂商所使用的方法 又无法全面性地测试出固态硬盘的可靠度。目前固态硬盘测试的技术中， 例如利用擦除字节与写入字节的比值(erase bytes/write bytes ratio)，以表示耗 损平均(wear leveling)的负担(overhead)，或者使用快取与热数据(hot data)时 节省擦除的比例等。另外，判断擦除数(erase count)，亦即计算固态硬盘的 擦除次数，也可做为可靠度的判断依据。另外，擦除数标准差与平均值的 应用也是其中一种测试方法，其可以表示耗损平均的水平，亦即整体擦除 数与发散程度。

此外，目前的测试方式大部分是以整个储存媒体为单位，因此其测试 报告的解析度不高。若是能以区块为单位，则测试结果则更能具有可信赖 性。另外，现有技术大部分仅以擦除数为基准，并未考虑其他因素，故难 免会使测试结果产生误差。

发明内容

基于上述问题，本发明提出一种固态储存媒体的测试方法，以提高测 试的可靠性与实用性。

因此，依据本发明一实施范例，提出一种固态储存媒体可靠度的测试 方法，固态储存媒体包含多个区块。首先，取得固态储存媒体的各区块的 生命周期。测试上述区块的擦除数，并且判断该区块的擦除数是否大于一 预定擦除数。将上述各区块中，擦除数大于预定擦除数的区块数加以累加， 以产生问题区块数，并输出测试报告。

另外，本发明还提出一种固态储存媒体可靠度的测试方法，固态储存 媒体包含多个区块。首先，决定测试流程。通过一接口命令，由固态储存 媒体向主机传送测试项目的数据。比较测试项目在测试前后的差异值，以 输出一测试报告。测试项目可为各区块的擦除数、错误更正码耐度值与无 效页等。

综上所述，本实施范例可以通过主机系统与固态储存媒体之间的接口 命令，主动地从固态储存媒体取得各种测试项目的数据，以作成测试报告。 各测试项目是以区块为单位，所以更能有效地显示出该固态储存媒体的测 试报告的实用性与信赖性。

为使本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并结 合附图详细说明如下。

附图说明

图1A绘示本实施范例的基本流程示意图，图1B为其应用的系统架构 示意图。

图2绘示本实施范例的一种测试方法的流程示意图。

图3绘示本实施范例的另一种测试方法的流程示意图。

图4绘示本实施范例的另一种测试方法的流程示意图。

图5绘示包含ECC单元的数据区块的架构示意图。

图6绘示本实施例的耐度区块的架构示意图。

图7绘示本实施例的存储器中的储存区域的示意图。

图8绘示本实施例的管理区域中的耐度记录表示意图。

附图符号说明

10：计算机(系统端)

12：固态储存媒体

14：接口

20：数据区块

22：ECC数据单元

30：耐度区块

40：储存区域

42：管理区域(映射表)

44：使用数据区域

46：备份区域

48：缺陷区域

具体实施方式

本实施范例在进行测试时，测试的目标为得到测试报告(test report)，测 试报告是利用市场上及工业上常使用的技术标准语言，例如失效间平均时 间(mean time between failures，MTBF)、长期数据耐度值(longterm data edurance，LDE)等。