[发明专利]储存媒体的损坏管理方法及其系统无效

专利信息
申请号: 200810184846.X 申请日: 2008-12-05
公开(公告)号: CN101470641A 公开(公告)日: 2009-07-01
发明(设计)人: 曾文俊 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 蒲迈文
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 储存 媒体 损坏 管理 方法 及其 系统
【说明书】:

技术领域

发明是有关于一种储存媒体的损坏管理方法及其系统,特别是有关存储器的损坏管理方法及其系统。

背景技术

存储媒体,特别是如非易失性存储器之类的闪存,其因为半导体的穿隧效应,闪存在到达一定以上的抹写次数后,记录数据的功能会开始损毁。针对此点,目前在存储器中的数据区块便并入错误更正码(error correctioncode,ECC)来进行数据的校正,另外还有缺陷管理、软件管理或耐度(endurance)管理等,均为用来管理或修正存储器中毁损数据的方法,但是该些方法也都各有缺点。

上述ECC方法在错误至无法更正时,尚需要配合其它管理机制配合,因此无法有效地预期可能发生损坏的储存区块,而给予有效的事先防范。缺陷管理的方式则不是事先预防方法,其只是将有缺陷的区块做标记而施以管理,但是在新产生缺陷区块,会产生有数据毁坏的问题。

软件管理方法是在操作系统或应用程序做闪存的管理。这种方法的缺点是无法达成储存体可移植性,而且当操作系统或应用程序重新安装时,管理数据会有消失的问题。耐度管理则是利用计数的方式来对存储器做使用上的管理。

另外,耐度管理为一种计数方式的管理方法。此方法利用写入次数作做损坏预防的机制。本方法的缺点为浪费,很多储存区块尚未有实际毁损便被标示为缺陷区块。另一个缺点是不适用于损坏是由非写入造成的快闪存储区块,如读取很多次或放置很长的时间。

因此,目前有需要一种可以有效管理缺陷储存区块且能够预先防范的方法。

发明内容

针对上述问题,本发明提出一种可预防毁损与有效管理不同毁损储存区块的方法,其可以在数据发生损毁前保护重要数据,并且可预防多次写入或多次读取或长期保存所造成的数据毁损,充分利用与管理开始有损坏的储存区块。

本发明提供一种储存媒体的损坏管理方法,包括以下步骤。首先,对储存媒体进行起始检查,并且对储存媒体进行区域划分,其中区域划分至少包括具有多个耐度区块的使用数据区域。对使用数据区域中的该些耐度区块分别附上初始耐度值。建立耐度表于储存媒体中,以记录该些耐度区块与该些初始耐度值。依据耐度表,对储存媒体进行抹除/写入程序,其中当抹除/写入程序超过抹除/写入预定次数,对各耐度区块重新计算耐度值并更新耐度表。对储存媒体进行读取程序,其中当读取程序超过读取预定次数,对各耐度区块重新计算耐度值并更新耐度表。

在上述方法中,抹除/写入程序还包括:将抹除/写入总计数值加上相对倍数,并判断是否超过抹除/写入预定次数;当超过抹除/写入预定次数,重新计算耐度值,并依据计算的耐度值,搬动数据并结束该抹除/写入程序;以及当未超过抹除/写入预定次数,累加1于抹除/写入总计数值,并且结束抹除/写入程序。另外,重新计算该耐度值可以还包括:将抹除/写入总计数值归零;调整耐度值判断条件;依据耐度值判断条件,重新计算耐度值;以及依据计算的耐度值,搬动数据。

另外,在上述方法中,读取程序还包括:在每一读取程序,累加1于读取总计数值,并判断是否超过读取预定次数;当超过读取预定次数,重新计算耐度值,并依据计算的耐度值,搬动数据并结束读取程序;以及当未超过读取预定次数,进行ECC检查与更正程序,并且结束读取程序。此外,重新计算该耐度值还包括:将读取总计数值归零;调整耐度值判断条件;依据耐度值判断条件,重新计算耐度值;以及依据计算的耐度值,搬动数据。另外,ECC检查与更正程序还包括:检查ECC更正次数是否增加;当该ECC更正次数增加时,记录ECC更正位数于该耐度表中,并且结束该读取程序;以及当ECC更正次数未增加时,结束读取程序。

此外,本发明还提出一种储存媒体的损坏管理系统,包括:储存区域,至少包括多个耐度区块(endurance block);空间管理器,与储存区域耦接,对储存区域进行管理;ECC单元,与储存区域与空间管理器耦接,用以当对储存区域进行抹除/写入或读取数据时,对数据进行ECC检查与更正;微控制器,耦接至空间管理器,微控制器可执行前述的损坏管理方法;以及耐度表,用以记录各耐度区块的耐度值。

在上述系统中,可以还包括接口,作为外部主机与微控制器之间的沟通。另外,可以还包括缓冲器,耦接于接口该ECC单元之间。

在上述系统中,各该些耐度区块包括多个数据区块,各该数据区块还包括多个ECC数据单元。另外,上述耐度表可建立在该储存区域内部或外部。耐度表可以包括耐度区块、写入次数、ECC更正位数与耐度值。

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