[发明专利]有源元件阵列基板

说明书

技术领域

本发明涉及一种有源元件阵列基板(active device array substrate)，尤其涉及一种能够有效地避免信号线在测试时发生开路现象(open)的有源元件阵列基板。

背景技术

具有高画质、空间利用效率佳、低消耗功率、无辐射等优越特性的液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD)已逐渐成为显示器的主流。在液晶显示面板的制作过程中，需要对其进行测试，以确定所制作出来的液晶显示面板能正常运作。一般而言，制造者会采用短路杆(shorting bar)的设计对于液晶显示面板进行测试。详细来说，在液晶显示面板进行测试时，通过与扫描线连接的栅极短路杆(gate shorting bar)同时将一栅极测试信号施加于所有的扫描线，以使所有的像素同时处于可被写入数据的状态。此外，通过多条源极短路杆(source shorting bar)分别将红色、绿色、蓝色的测试信号通过连接导体以及数据线写入像素中。在测试信号写入像素之后，观察整个液晶显示面板的画面显示情形，以判断液晶显示面板的显示是否正常。

在进行上述测试时，常会检测出线缺陷(line defect)，然而，此线缺陷未必是数据线或扫描线本身断线所造成的。在某些情况下，线缺陷是由于连接于数据线或扫描线与短路杆之间的连接导体发生开路现象所导致的。具体而言，前述的线缺陷多半发生在前三条数据线所控制的三行像素中，而产生线缺陷的主要原因在于：液晶显示面板在进行测试时，所输入的大电流测试信号(即红色、绿色、蓝色的测试信号)容易导致连接于前三条数据线以及短路杆之间的连接导体被烧断。为了避免测试时第1条数据线被烧断的情况一再发生，已有公知技术提出了解决的办法，以下将搭配图1A以及图1B进行说明。

图1A是公知测试线路的俯视图，而图1B是图1A中的测试线路的等效电路图。请参照图1A与图1B，公知的测试线路100主要更改了第1条数据线DL1、第2条数据线DL2以及第3条数据线DL3与短路杆110的连接方式，详细来说，第1条数据线DL1、第2条数据线DL2以及第3条数据线DL3各自在末端处均采用分支设计(branch design)，以期降低各个独立的连接导体120在测试时被烧断的机率。然而，从图1B中的等效电路判断，具有分支设计的第1条数据线DL1、第2条数据线DL2以及第3条数据线DL3仍然会有大电流测试信号通过，因此第1条数据线DL1、第2条数据线DL2以及第3条数据线DL3的分支设计并无法有效地改善连接导体120在测试时被烧断的情况，导致连接导体120在测试期间被烧断的情况仍然严重，如图2A与图2B中的圆圈标示处所示。图2A的圆圈标示处对应于图1A中的A’位置，而图2B的圆圈标示处对应于图1B中的A”位置。

承上所述，如何有效地降低连接导体120在测试时被烧断的机率是液晶显示面板在进行测试过程中值得关注的议题之一。

发明内容

本发明提供一种有源元件阵列基板，其可有效降低线缺陷(line defect)的机率。

本发明提出一种有源元件阵列基板，包括一基板、一像素阵列以及一周边线路。基板具有一显示区以及一周边区，像素阵列配置于基板的显示区上，且像素阵列包括多条信号线以及多个像素，各个像素分别与对应的信号线电性连接，且各条信号线分别从显示区延伸至周边区。周边线路配置于周边区上，且周边线路具有一与信号线电性连接的测试线路。此外，测试线路包括多条短路杆以及多个连接导体，各信号线分别通过其中一个连接导体与其中一个短路杆连接，且至少两条与同一短路杆连接的信号线通过其中一个连接导体彼此电性连接。

在本发明的一实施例中，前述的信号线包括多条扫描线以及多条数据线，扫描线以及数据线分别从显示区延伸至周边区，且数据线与测试线路电性连接。

在本发明的一实施例中，前述的短路杆包括一第一短路杆、一第二短路杆以及一第三短路杆，而前述的数据线包括多条与第一短路杆电性连接的第一数据线、多条与第二短路杆电性连接的第二数据线以及多条与第三短路杆电性连接的第三数据线。

在本发明的一实施例中，前述的第一数据线是由多条第(3n-2)条数据线所组成，前述的第二数据线是由多条第(3n-1)条数据线所组成，而前述的第三数据线是由多条第(3n)条数据线所组成，且n为任意正整数。