[发明专利]高压开关特性测试仪校验装置无效

专利信息
申请号: 200810185083.0 申请日: 2008-12-25
公开(公告)号: CN101666866A 公开(公告)日: 2010-03-10
发明(设计)人: 牛滨;卢伟;王艳芳;胡敏 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 哈尔滨东方专利事务所 代理人: 陈晓光
地址: 150040黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 高压 开关 特性 测试仪 校验 装置
【权利要求书】:

1.一种高压开关特性测试仪校验装置,其组成包括:机箱,其特征是:所述的机箱中装有输入单元,所述的机箱中装有输出单元和电源电路,所述的输入单元、输出单元、电源电路分别与主控板连接。

2、根据权利要求1所述的高压开关特性测试仪校验装置,其特征是:所述的主控板包括微处理器、A/D转换电路、显示模块、时基电路,其各组成部分间具有电路连接关系。

3、根据权利要求1或2所述的高压开关特性测试仪校验装置,其特征是:所述的输入单元包括采样电路和AD 536 AK单片真有效值(rms)交/直流转换电路。

4、根据权利要求2所述的高压开关特性测试仪校验装置,其特征是:所述的A/D转换电路采用ICL7135单片模数转换器,所述的微处理器为ATmega128单片机或嵌入式系统,所述的时基电路使用恒温晶体振荡器OC2012C-D17,所述的显示模块选用LCD图形液晶显示屏或LED高亮度数码管。

5、根据权利要求3所述的高压开关特性测试仪校验装置,其特征是:所述的A/D转换电路采用ICL7135单片模数转换器,所述的微处理器为ATmega128单片或嵌入式系统,所述的时基电路使用恒温晶体振荡器OC2012C-D17,所述的显示模块选用LCD图形液晶显示屏或LED高亮度数码管。

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