[发明专利]确定至少两个冲击的位置的方法有效
申请号: | 200810186088.5 | 申请日: | 2008-12-22 |
公开(公告)号: | CN101464756A | 公开(公告)日: | 2009-06-24 |
发明(设计)人: | 雷米·杜海勒;奥利维尔·申温;罗斯·克里因格 | 申请(专利权)人: | 传感器公司 |
主分类号: | G06F3/043 | 分类号: | G06F3/043 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 王波波 |
地址: | 法国布洛涅*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 确定 至少 两个 冲击 位置 方法 | ||
1.一种使用一个或多个传感器Si确定表面上的至少两个冲击 F1和F2的位置的方法,其中i=1到n,n是传感器的数目,所述至 少两个冲击F1和F2同时发生或在短时段内彼此跟随,所述至少两 个冲击F1和F2产生一个或多个传感器所感测到的信号,其中每一 个传感器提供感测信号si(t);所述方法包括以下步骤:
a)识别最强冲击的位置x,
b)基于感测信号si(t)中的每一个与预定参考信号rij(t)的比较, 确定针对每一个传感器的修改的感测信号si’(t),在所述修改的感测 信号si’(t)中,由于所识别的冲击而产生的贡献被减小,以及其中所 述预定参考信号rij(t)与位置j处的参考冲击Rj相对应,以及
c)使用修改的感测信号si’(t)或其傅立叶变换Si’(ω)来识别下一 个较弱第二冲击的位置,其中步骤c)包括:
-使用傅立叶变换Si’(ω)和参考信号rij(t)的傅立叶变换 Rij(ω),来确定每一个传感器的修改的感测信号si’(t)与每一个参考 信号rij(t)的相关,以及
-针对每一个参考信号rij(t),关于传感器对相关乘积进行平 均。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述比较是相关。
3.根据权利要求1所述的方法,其中步骤b)包括步骤:
b1)将感测信号si(t)中的每一个与参考信号rix(t)进行相关,参 考信号rix(t)是多个参考信号rij(t)中与临近的参考冲击相对应的 参考信号,
b2)利用预定函数,对每一个相关乘积进行拟合,以及
b3)从相关乘积中减去拟合得到的函数。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,步骤b1)包括使用感 测信号si(t)的傅立叶变换Si(ω)与参考信号rix(t)的傅立叶变换 Rix(ω)。
5.根据权利要求1所述的方法,其中步骤b)包括步骤:
b1)将感测信号si(t)的傅立叶变换Si(ω)的每一个与参考信号 rix(t)的傅立叶变换Rix(ω)进行相关,由此获得n个相关乘积 Si(ω)Rix*(ω),所述参考信号rix(t)是多个参考信号rij(t)中与临近的参 考冲击相对应的参考信号,
b2)关于n个传感器对相关乘积Si(ω)Rix*(ω)进行平均,
b3)确定n个相关乘积Si(ω)Rix*(ω)的平均值的相位,
b4)将每一个相关乘积Si(ω)Rix*(ω)与平均值的相位的复共轭 相乘,由此获得修改的相关乘积,
b5)从修改的相关乘积中减去实部,以及
b6)将每一个修改的相关乘积的剩余部分与平均值的相位相 乘。
6.根据权利要求3所述的方法,其中,所述参考冲击为最接 近最强冲击的参考冲击。
7.根据权利要求5所述的方法,其中,所述参考冲击为最接 近最强冲击的参考冲击。
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