[发明专利]成分测量装置有效
申请号: | 200810186920.1 | 申请日: | 2004-05-21 |
公开(公告)号: | CN101430286A | 公开(公告)日: | 2009-05-13 |
发明(设计)人: | 近藤晃;长泽靖 | 申请(专利权)人: | 泰尔茂株式会社 |
主分类号: | G01N21/78 | 分类号: | G01N21/78;G01N33/52;G01N33/66;G01N31/22;G01N21/86 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 | 代理人: | 王茂华;于英慧 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 成分 测量 装置 | ||
1.一种成分测量装置,通过对试验部位进行测色来测量检体中的预定成分的量和/或性质,其特征在于,包括:
组件安装部,可自由拆装地安装具有上述试验部位的组件;
测光部,具有在进行上述测量时向上述组件的上述试验部位投射光的发光元件、对由上述试验部位反射的反射光进行受光的受光元件、以及收纳、保持上述发光元件和上述受光元件的支持件;以及
具有遮光性的测试组件,该测试组件可自由拆装地安装在上述组件安装部上,
其中,在上述支持件中形成有上述光和上述反射光通过的通道,在上述支持件的面向上述试验部位的部分,设置有透光性部件,
具有污物检测装置,在上述组件安装部上安装了上述测试组件的状态下,从上述测光部的上述发光元件投射光,由上述受光元件受光,根据该受光元件的受光光量,检测上述透光性部件的污物,
上述污物检测装置,在上述透光性部件的污物检测中,当上述受光元件的受光光量大于阈值时,判断为在上述透光性部件上存在污物。
2.根据权利要求1所述的成分测量装置,其特征在于:
上述测试组件具有遮盖上述组件安装部的前端侧的盖状部分。
3.根据权利要求2所述的成分测量装置,其特征在于:
上述测试组件的至少上述盖状部分为黑色或者暗色。
4.根据权利要求2或3所述的成分测量装置,其特征在于:
在上述组件安装部上安装了上述测试组件的状态下,从上述组件安装部的前端到上述盖状部分的前端侧的内壁的长度,大于等于10mm。
5.一种成分测量装置,通过对试验部位进行测色来测量检体中的预定成分的量和/或性质,其特征在于,包括:
组件安装部,可自由拆装地安装具有上述试验部位的组件;以及
测光部,具有在进行上述测量时向上述组件的上述试验部位投射光的发光元件、对由上述试验部位反射的反射光进行受光的受光元件、以及收纳、保持上述发光元件和上述受光元件的支持件,
其中,在上述支持件中形成有上述光和上述反射光通过的通道,在上述支持件的面向上述试验部位的部分,设置有透光性部件,
具有污物检测装置,从上述测光部的上述发光元件投射光,由上述受光元件受光,根据该受光元件的受光光量,检测上述透光性部件的污物,
上述污物检测装置,在上述透光性部件的污物检测中,当上述受光元件的受光光量大于阈值时,判断为在上述透光性部件上存在污物。
6.根据权利要求1或5所述的成分测量装置,其特征在于:
上述透光性部件的污物的检测,在未将上述组件安装到上述组件安装部的状态下进行。
7.根据权利要求1或5所述的成分测量装置,其特征在于:
当向该成分测量装置接入电源时,进行上述透光性部件的污物检测。
8.根据权利要求1或5所述的成分测量装置,其特征在于:
具有进行上述透光性部件的污物检测的污物检测模式。
9.根据权利要求1或5所述的成分测量装置,其特征在于:
具有存储装置,
在进行上述测量后,进行透光性部件的污物检测,并将其结果存储在上述存储装置中。
10.根据权利要求9所述的成分测量装置,其特征在于:
在不进行上述透光性部件的污物检测时,利用存储在上述存储装置中的信息。
11.根据权利要求9所述的成分测量装置,其特征在于:
在上述组件安装部上安装了上述组件的状态下向该成分测量装置接入电源时,不进行上述透光性部件的污物检测,而利用存储在上述存储装置中的信息。
12.根据权利要求1或5所述的成分测量装置,其特征在于:
具有报知上述透光性部件的污物检测结果的报知装置。
13.根据权利要求1或5所述的成分测量装置,其特征在于:
上述透光性部件被设置成通过密封部件来密封上述通道。
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