[发明专利]自动调节所需照明亮度的影像撷取方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种影像撷取方法，特别是涉及一种得到预定影像亮度与均匀度的 影像撷取方法。

背景技术

进行待测物影像检测都必须取得特征明显的待测物影像，才能确保进行检测或 量测是否正确；而取得特征明显的待测物影像，最重要的关键在于，如何对待测物 施予均匀且具有预定光输出强度的照光，从而得到所需影像亮度的待测物影像。

以实际集成电路封装体(IC Package)的标签(marking)检测为例，是对待测 的集成电路封装体撷取有标签部分的影像，再将其与预设的基础影像作比对，进而 判断待测的集成电路封装体标签是否符合出货标准；而为了取得特征明显的标签部 分影像，会自集成电路封装体的四周施于彼此相对称且输出强度均一的侧向照光， 使集成电路封装体的标签清晰可见，不因某一方向的侧向照光过强，而导致阴影出 现，或是出现渐层式的亮度分布的状况，接着，将撷取到的标签部分影像与基础影 像作比对，判定待测集成电路封装体标签的外观是否符合品管检验标准。

目前，进行影像检测时采用的照光方式有同轴光源、背光源、侧向光源、环形 光源，或组合(同轴与环型)光源等等，但无论何种照光方式，都是在进行影像检 测前，由检测员自身目视，配合影像撷取装置，例如摄影机、电荷耦合摄像装置(CCD) 得到影像品质，人工地调整光源输出光强度，以得到具有所需的影像亮度、照光均 匀度的待测物影像。

这样的方式，缺点是欠缺实施基准，也就是说，不同的人有不同的视觉感受， 所以调整后的光源输出光强度、照光至待测物上的亮度、均匀度等等也都会有所差 异，进而导致检测结果或标准有所变化。

另外，由于人的视觉敏锐度会因为随着工作时间产生的疲劳而变化，所以在长 时间、大量待测物的检测过程中，当光源、置放待测物的工作台等等因为长时间机 台微幅震动的累积，而产生例如光源角度变化、工作台倾斜造成照光均匀度不均一 的改变时，检测员并无法实时察知而进行调整，而影响到整批检测的结果。

影像检测是品管相当重要的环节，而影像检测的最重要关键则在于如何对待测 物施予均匀且具有预定光输出强度的照光，从而得到所需影像亮度的待测物影像， 所以，设计、建立一套可以稳定得到清晰的待测物影像的影像撷取方法，是业界、 学界努力的方向。

发明内容

本发明的目的是在提供一种自动调节所需照明亮度的影像撷取方法，而可以依 据所需的影像亮度，自动调节光源输出光强度与均匀度，以得到清晰的待测物影像。

本发明的自动调节所需照明亮度的影像撷取方法，包括一系统架设步骤、一参 考影像撷取步骤、一光源照射模型建立步骤、一光源输出光强度得到步骤、一光源 亮度调节步骤，及一预定亮度影像得到步骤。

该系统架设步骤将至少二可改变输出光强度的光源与一影像撷取器对应于一工 作台设置，并将所述光源与一可分别调节所述光源的输出光强度的多通道光源控制 器相电连接后，将该多通道光源控制器、该影像撷取器与一可进行影像运算的运算 控制器电连接。

该参考影像撷取步骤令所述光源分别以任一输出光强度照射置于该工作台上的 待测物，并以该影像撷取器撷取在所述光源照射下的待测物的影像。

该光源照射模型建立步骤于该运算控制器中定义该参考影像撷取步骤中取得的 影像具有多数个区域，并建立撷取影像时所述光源的输出光强度对应该多数区域影 像亮度的矩阵与转换矩阵关系。

该光源输出光强度得到步骤以该运算控制器对该光源照射模型建立步骤中建立 的矩阵与转换矩阵关系进行矩阵运算，得到欲撷取一具有预定影像亮度的待测物影 像时所对应的每一光源的光输出强度。

该光源亮度调节步骤将该运算控制器运算得到的光输出强度输出至该多通道光 源控制器，令该多通道光源控制器依所述光输出强度值调节该每一光源输出光强度。

该预定亮度影像得到步骤在每一光源依该多通道光源控制器调节的光输出强度 输出光后，以该影像撷取器撷取置于该工作台上的待测物影像，得到具有预定影像 亮度的待测物影像本发明的有益效果在于：利用矩阵运算自各光源以任意输出光强 度照射时得到的待测物影像，计算出欲撷取具有预定影像亮度时的待测物影像时， 所需的各光源的光输出强度，然后再输出所述光输出强度值自动调节每一光源的输 出光强度，即可得到具有预定影像亮度的待测物影像。

附图说明