[发明专利]电化学装置用电极以及电化学装置有效
申请号: | 200810189122.4 | 申请日: | 2008-12-29 |
公开(公告)号: | CN101471437A | 公开(公告)日: | 2009-07-01 |
发明(设计)人: | 大桥良彦;桧圭宪;片井一夫;小林桂太 | 申请(专利权)人: | TDK株式会社 |
主分类号: | H01M4/02 | 分类号: | H01M4/02;H01M10/36;H01M10/40;H01G9/058;H01G9/155 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙 淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电化学 装置 用电 以及 | ||
技术领域
本发明涉及电化学装置用电极以及电化学装置。
背景技术
卷绕式电化学装置是通过将在细长的集电体上形成有活性物质层的电极在长度方向上卷绕而形成的。在集电体的长度方向上的长度较长的情况下,为了抑制大电流的集中导致的发热或极化等,在集电体上在其长度方向上间隔地设置多个引线(参照例如,日本特开平7-192717号公报、日本特开平11-283882号公报、日本特开平11-283883号公报、日本特开平11-317218号公报、日本特开2000-106167号公报、日本特开2000-182656号公报、日本特开2000-110453号公报、日本特开2006-260892号公报、日本特开2006-286404号公报)。
发明内容
以往技术中,例如在卷绕时引线被配置于集电体上并且极性相同的引线大致重叠,没有特别注意引线的配置间隔或配置数量等。然而,为了高效地利用电化学装置,需要进一步降低电化学装置的阻抗。从降低电化学装置的阻抗的观点出发,可以考虑增加引线的数量并使引线的配置间隔变小,从而减小对集电体的阻抗的贡献的方法,然而,本发明者们经过研究发现,当引线的配置间隔过小时,会增加漏电流。而漏电流的增加会导致能量的损耗,因此不妥。即本发明者们发现了引线配置间隔存在适宜的范围。
本发明正是基于上述发现而完成的,其目的在于提供一种可以降低阻抗并可以减少漏电流的电化学装置用电极以及使用此电极的电化学装置。
本发明所涉及的电化学装置用电极具有:细长的集电体、设置于集电体的长度方向的中途的引线、以及设置于集电体的表面的活性物质层。
此外,当将从集电体的长度方向上的一端至引线的距离设定为La[m]、将从集电体的长度方向上的另一端至引线的距离设定为Lb[m]、将集电体在25℃时的电阻率设定为ρ[Ωm]、将Lopt[m]设定为1.9×106ρ时,La及Lb分别在0.95Lopt以上且1.05Lopt以下。
本发明所涉及的其它的电化学装置用电极具有:细长的集电体、设置于集电体上且在该集电体的长度方向上相互间隔的n(n为2以上的整数)个引线、以及设置于集电体的表面的活性物质层。
此外,当将从集电体的长度方向上的一端至最接近于集电体的一端的引线的距离设定为La[m]、将从集电体的长度方向上的另一端至最接近于集电体的另一端的引线的距离设定为Lb[m]、将相邻引线之间的距离分别设定为L1、L2、……、Ln-1[m],将集电体在25℃时的电阻率设定为ρ[Ωm]、将Lopt[m]设定为1.9×106ρ时,La及Lb分别在0.95Lopt以上且1.05Lopt以下、(L1/2)、(L2/2)、…….、(Ln-1/2)分别在0.95Lopt以上且1.05Lopt以下。
本发明所涉及的电化学装置具有一对电极,该电极中的任意一个均为上述的电化学装置用电极。
利用这样的电化学装置用电极可以制造阻抗低且漏电流低的电化学装置。
附图说明
图1为第1实施方式所涉及的电化学装置用电极的概略立体图。
图2为第2实施方式所涉及的电化学装置用电极的概略立体图。
图3为第3实施方式所涉及的电化学装置用电极的概略立体图。
图4为第4实施方式所涉及的电化学装置用电极的概略立体图。
图5为示意本发明的实施方式所涉及的电化学装置的一个例子的部分剖面概略立体图。
图6为示意本发明的实施方式所涉及的电化学装置的其它例子的部分剖面概略立体图。
图7为示意实施例及比较例的条件及结果的表。
具体实施方式
以下,参照附图对本发明的优选的实施方式进行详细说明。其中在附图说明中,对同一或相当的要素标记同一符号,省略重复的说明。而且,各图的尺寸比例不一定与实际的尺寸比例一致。
(第1实施方式)
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