[发明专利]多晶硅—碳化硅叠层薄膜太阳能电池有效
申请号: | 200810195062.7 | 申请日: | 2008-11-05 |
公开(公告)号: | CN101393942A | 公开(公告)日: | 2009-03-25 |
发明(设计)人: | 沈鸿烈;黄海宾;吴天如;鲁林峰 | 申请(专利权)人: | 南京航空航天大学 |
主分类号: | H01L31/068 | 分类号: | H01L31/068;H01L31/0336 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 | 代理人: | 魏学成 |
地址: | 210016江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 多晶 碳化硅 薄膜 太阳能电池 | ||
1.一种多晶硅-碳化硅叠层薄膜太阳能电池,其特征在于:
依次由玻璃衬底、在玻璃衬底上沉积的透明导电薄膜下电极,在透明导电薄膜下电极上通过热丝化学气相沉积生长的叠接在一起的下子电池和上子电池、上电极,以及在上电极和上子电池之间的一层Ag金属反射层组成;
其中透明导电薄膜下电极是氧化铟锡,或者铝掺杂氧化锌或者氧化锡;
其中下子电池由热丝化学气相沉积法生长的n型碳化硅层/p型碳化硅层构成;
其中上子电池由热丝化学气相沉积法生长的n型多晶硅层/p型多晶硅层构成;
其中上电极为Al金属层;
上述p型碳化硅层的厚度为150nm-1500nm,载流子浓度为:1×1016cm-3至5×1017cm-3;n型碳化硅层的厚度为15-200nm,载流子浓度为:1×1018cm-3至5×1019cm-3;
上述p型多晶硅层的厚度为100-2000nm,载流子浓度为:1×1016cm-3至5×1017cm-3;n型多晶硅层的厚度为15-200nm,载流子浓度为:1×1018cm-3至5×1019cm-3。
2.根据权利要求1所述的多晶硅-碳化硅叠层薄膜太阳能电池, 其特征在于:透明导电薄膜下电极的可见光透过率大于85%,电阻率小于5×10-3Ω·cm。
3.一种多晶硅-碳化硅叠层薄膜太阳能电池,其特征在于:
依次由不锈钢衬底、Ag金属反射层、透明导电过渡层、在过渡层上通过热丝化学气相沉积生长的叠接在一起的下子电池和上子电池、以及透明导电上电极组成;
其中透明导电过渡层和透明导电上电极是氧化铟锡,铝掺杂氧化锌或者氧化锡;
其中下子电池由热丝化学气相沉积法生长的n型多晶硅层/p型多晶硅层构成;
其中上子电池由热丝化学气相沉积法生长的n型碳化硅层/p型碳化硅层构成;
上述p型多晶硅层的厚度为100-2000nm,载流子浓度为:1×1016cm-3至5×1017cm-3;n型多晶硅层的厚度为15-200nm,载流子浓度为:1×1018cm-3至5×1019cm-3;
上述p型碳化硅层的厚度为:150nm-1500nm,载流子浓度为:1×1016cm-3至5×1017cm-3;n型碳化硅层的厚度为:15-200nm,载流子浓度为:1×1018cm-3至5×1019cm-3。
4.根据权利要求3所述的多晶硅-碳化硅叠层薄膜太阳能电池,其特征在于:透明导电上电极的可见光透过率大于85%,电阻率小于5×10-3Ω·cm。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的