[发明专利]湿、热、力多场耦合下的老化测试方法及装置无效

专利信息
申请号: 200810203977.8 申请日: 2008-12-04
公开(公告)号: CN101435811A 公开(公告)日: 2009-05-20
发明(设计)人: 胡宏玖;谢苏江;陈国华;汤傲洁;周沙溆;贺耀龙 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: G01N33/00 分类号: G01N33/00;G01N17/00
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 代理人: 何文欣
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 力多场 耦合 老化 测试 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种湿、热、力多场耦合下的老化实验方法及其装置,主要用于模拟在役 环境中聚合物及其复合材料的老化性能测试,属材料力学试验机领域。

背景技术

高分子聚合物及其复合材料于湿热环境中承载服役时,材料性能将逐渐下降,部分或全 部丧失其使用价值而发生老化。湿、热、力耦合老化的机制主要为:①源于环境温度的变化 及树脂基体、增强纤维以及树脂、纤维粘接界面不同破坏程度的热应力损伤;②水分子的扩 散运动对材料的影响为物理吸附与化学键的削弱甚至破坏。由于水能使基体溶胀塑化并扩散 至基体与纤维的界面,吸湿结晶化而产生裂纹扩展、基体的降解,从而造成基体强度下降; ③外载荷对材料所致应力损伤则进一步加速了湿热老化进程。迄今为止,尚无湿、热、力耦 合下的材料老化试验方法及其装备,目前聚合物及其复合材料湿热老化试验均采用“两步法” 进行,即根据材料的使用环境来确定湿热老化的温度、湿度参数,先在湿热环境箱中实施若 干时间的人工加速老化试验后,将样品从环境箱中取出,通过扫描电子显微镜(SEM)、X射 线衍射(XRD)、电子能谱(XPS)和红外谱图分析(FTIR)等微观材料学手段或利用材料力学通用 试验机测试老化过程中材料宏观力学参量的变化。对大多数实际在役工况为湿、热、力耦合 的聚合物及其复合材料而言,据上述“两步法”监测老化进程,将显著高估材料的抗老化性 能,从而导致工程设计的安全隐患。

发明内容

本发明的目的在于针对已有技术存在的不足,提供一种适合于聚合物及其复合材料于湿、 热、力多场耦合下的老化测试方法及装置,为聚合物及其复合材料提供准确、便捷、低成本 的老化测试方法。

本发明的思路为:①老化试验方法基于湿、热、力多场耦合下材料拉伸蠕变柔量的动态 监测;②老化装置立足于微电脑控制的标准湿、热环境箱,对其硬件进行适当改良后,内置 加载机构;建立有效的载荷、位移测试系统;编制相应的数据采集软件,实现湿、热、力多 场耦合下聚合物及其复合材料的老化的测试。

根据上述发明构思,本发明采用下述技术方案:

一种湿、热、力多场耦合下的老化测试方法,用于对以聚合物及其复合材料制成的试 样进行测试,其特征在于测试步骤如下:

a.根据聚合物及其复合材料服役时的极端条件-最高操作温度T、最大湿度φ及最大应力σ, 确定湿、热、力多场耦合老化的试验条件;

b.据上述最高操作温度T、最大湿度φ,启动测试用环境箱的环境控制系统,待其箱内温度、 湿度达到该最高操作温度T、最大湿度φ时,对置于环境箱内由聚合物及其复合材料制 成的试样施加恒定拉伸载荷F,载荷大小由关系式F=σS确定,其中σ为最大应力,S 为试样横截面积;

c.对湿、热、力多场耦合老化下试样的位移信号进行采集后,经放大、滤波,并转换为计 算机能够识别的数字信号送入计算机内进行处理,得到温度T、湿度φ、应力σ耦合下的 实时蠕变位移-时间曲线(l(T,φ,σ)(t)-t);

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