[发明专利]获取集成电路中电感模型的方法有效

专利信息
申请号: 200810205262.6 申请日: 2008-12-31
公开(公告)号: CN101770528A 公开(公告)日: 2010-07-07
发明(设计)人: 陈展飞;蒋立飞 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 代理人: 翟羽
地址: 201210 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 获取 集成电路 电感 模型 方法
【权利要求书】:

1.一种获取集成电路中电感模型的方法,其特征在于,包含如下步骤:

(1)设定若干组电感的参数X1、X2和X3,以及一电感特征值A,其中 所述参数X1为电感圈数、所述参数X2为线圈内径、所述参数X3为电感线直 径,所述电感特征值A为电感的电感值、散射参数或导纳参数;

(2)改变参数X1为多个不同的数值,且保持其它参数不变,以形成第一 组电感参数,采用所述第一组电感参数制作一组电感,并测量所述电感特征值 A,从而获得第一组函数关系表达式,所述第一组函数关系表达式用于描述所 述电感特征值与参数X1之间的函数关系,所述第一组函数关系表达式中的系 数为a1、a2……ai,其中,i为正整数;

(3)改变参数X2为多个不同的数值,且保持其他参数不变,以形成第二 组电感参数,依次选取第二组电感参数的每一个电感参数,重复执行步骤(2), 从而获得第二组函数关系表达式,所述第二组函数关系表达式用于描述每个系 数a1、a2……ai分别与参数X2之间的函数关系,所述第二组函数关系表达式 中的系数为b1、b2、……bj,其中j为正整数;

(4)改变参数X3,并仿照步骤(2)与(3)的叙述重复执行前面的步骤, 从而获得被改变的参数与前一步骤所获得的函数关系表达式中的系数之间的 函数关系;

(5)根据上述步骤中所获得的各组函数关系,以获取所述电感特征值A 与所述参数X1、X2、与X3的函数关系表达式,即获取到所述电感模型。

2.根据权利要求1所述的获取集成电路中电感模型的方法,其特征在于,所 述电感圈数的取值范围为3.5~5.5。

3.根据权利要求2所述的获取集成电路中电感模型的方法,其特征在于,所 述电感圈数的取值分别为3.5、4.5和5.5。

4.根据权利要求1所述的获取集成电路中电感模型的方法,其特征在于,所 述线圈内径的取值范围为30μm~90μm。

5.根据权利要求4所述的获取集成电路中电感模型的方法,其特征在于,所 述线圈内径的取值分别为30μm、60μm和90μm。

6.根据权利要求1所述的获取集成电路中电感模型的方法,其特征在于,所 述电感线直径的取值范围为1.5μm~2μm。

7.根据权利要求6所述的获取集成电路中电感模型的方法,其特征在于,所 述电感线直径的取值分别为1.5μm和2μm。

8.根据权利要求1所述的获取集成电路中电感模型的方法,其特征在于,所 述电感为螺旋电感。

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