[发明专利]透明导电膜及其制备方法无效
申请号: | 200810207263.4 | 申请日: | 2008-12-18 |
公开(公告)号: | CN101752028A | 公开(公告)日: | 2010-06-23 |
发明(设计)人: | 张德恒;徐照方 | 申请(专利权)人: | 上海摩根碳制品有限公司 |
主分类号: | H01B5/16 | 分类号: | H01B5/16;H01B13/00;C23C14/14;C23C16/22;G02F1/1333;B32B9/04;B32B15/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 200241 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 透明 导电 及其 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种透明导电膜。
背景技术
近年随着大屏幕、高清晰显示器的迅速发展,传统的ITO薄膜(铟锡氧化物半导体透明导电膜)已满足不了要求,更低电阻率和更高透过率的透明导电膜成了人们研究的焦点.而金属介质多层膜的导电性能与单层金属基本相同,金属两边的介质层除了保护金属膜外,还能起高透射射效果,使得金属介质多层膜有理由成为ITO薄膜的替代品。
发明内容
本发明的目的为提供一种透射率高、电阻率低的透明导电膜。
实现上述发明目的的技术方案如下:
透明导电膜,包括一金属银层,所述金属银层两侧分别复合有一类金刚石薄膜层,上述层结构的排列顺序为内层类金刚石薄膜/银/外层类金刚石膜,所述内层类金刚石膜层的厚度为10~60nm,所述银层厚度为12~22nm,所述外层类金刚石膜层厚度为20~50nm,并且上述层厚度不能同时取两端的值。
所述内层类金刚石膜层的厚度为30nm,所述银层厚度为16nm,所述外层类金刚石膜层厚度为40nm。
本发明的另一目的为提供一种制备上述透明导电膜的制备方法,实现上述目的的技术方案如下:
透明导电膜的制备方法,选择基底,在基底上采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)技术制备内层DLC薄膜;用磁控溅射镀膜设备在室温条件下进行Ag层的制备;在银层上采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)技术制备外层DLC薄膜;其中膜厚由膜厚监控仪在线监控,Ag靶的纯度为99.999%,溅射频率为13.56MHz。
由于Ag具有优良的导电性能,而且其带间跃迁始于4eV附近,在可见光区具有相对较低的光吸收系数,所以我们常选用Ag作为中间的金属层。金刚石是迄今为止自然界中性能最优良的光学增透材料之一,而类金刚石(DLC,Diamond Like Carbon)薄膜是一种有着类似金刚石性能的新型薄膜材料,类金刚石薄膜用作光学保护膜和耐磨涂层被广泛研究,它的折射率低、透射率高、耐腐蚀,可以用作红外光学玻璃保护膜、太阳能电池的减反射涂层,所以以DLC作为非金属透光层,Ag作为金属导电层,制备DLC/Ag/DLC复合多层膜具有透射率高、电阻率低的特点。
附图说明
图1为外层类金刚石薄膜D1厚度变化对透过率影响的计算机模拟数据图;
图2为外层类金刚石薄膜D1厚度变化对透过率影响的实验数据图;
图3为内层类金刚石薄膜D2厚度变化对透过率影响的计算机模拟数据图;
图4为内层类金刚石薄膜D2厚度变化对透过率影响的实验数据图;
图5为银层厚度变化对透过率影响的计算机模拟数据图;
图6为银层厚度变化对透过率影响的实验数据图;
图7为外层DLC厚度变化对多层膜光学密度的影响;
图8为本发明的结构示意图
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明。
如图1所示,透明导电膜,包括一金属银层1,所述金属银层两侧分别复合有一类金刚石薄膜层2、3,上述层结构的排列顺序为内层类金刚石薄膜/银/外层类金刚石膜,所述内层类金刚石膜层2的厚度为10~60nm,所述银层1厚度为12~22nm,所述外层类金刚石膜层3厚度为20~50nm,并且上述层厚度不能同时取两端的值。
作为优选,所述内层类金刚石膜层的厚度为30nm,所述银层厚度为16nm,所述外层类金刚石膜层厚度为40nm。
下面通过具体的实施例的制备和实验对本发明的性能作进一步说明。
其中电脑模拟实验采用模拟软件Film WizardTM Optical thin filmsoftware,是Scientific Computing International开发的光学模拟软件。
样品制备:
采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)技术制备DLC薄膜。用JSCK-450sf磁控溅射镀膜设备在室温条件下进行Ag层的制备。Ag靶的纯度为99.999%,溅射频率为13.56MHz.基片用秦宁玻璃公司生产的载物片,先后用丙酮、酒精和去离子水超声清洗,用恒温干燥箱烘干。溅射前先将系统的真空度抽至5.0×10-4Pa,随后充入纯度为99.99%的氩气,溅射气体压强为1.0Pa,膜厚由FTM-V膜厚监控仪在线监控,用TU-1800紫外可见分光光度计测量薄膜光学透过率和反射率,用szt-90型四探针测试仪测量薄膜方块电阻。
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