[发明专利]用于在信息处理系统中管理存储错误的系统和方法有效
申请号: | 200810210501.7 | 申请日: | 2008-08-13 |
公开(公告)号: | CN101369240A | 公开(公告)日: | 2009-02-18 |
发明(设计)人: | M·P·哈尔特里;P·D·斯塔尔茨;F·E·诺罗德;J·D·派克 | 申请(专利权)人: | 戴尔产品有限公司 |
主分类号: | G06F11/00 | 分类号: | G06F11/00;G06F11/07 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人: | 周建秋;王凤桐 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 信息处理 系统 管理 存储 错误 方法 | ||
技术领域
本发明一般涉及计算机系统和信息处理系统领域,并且尤其涉及处理存储错误(memory error)。
背景技术
随着信息的价值和使用不断地增加,个人和企业均在寻求其它的处理和存储信息的方法。对于用户而言,一个可用的选择就是信息处理系统。信息处理系统通常处理、汇集、存储和/或传输用于商业、个人或者其他目的的信息和数据,从而使用户得以利用信息的价值。由于不同的用户或应用之间存在不同的技术和信息处理需要和需求,因此信息处理系统在以下方面可能不同:信息处理的类型;处理信息的方法;处理、存储或传输信息的方法;所处理、存储或传输的信息量;以及处理、存储或传输信息的速度和效率方面。信息处理系统中的变化允许信息处理系统成为通用的、或者针对特定用户或者诸如金融交易处理、航班订票、企业数据存储或者全球通信的特定用途而被配置。另外,信息处理系统可以包含或包括多种被配置为处理、存储和传输信息的软硬组件,并且可以包含一个或者多个计算机系统、数据存储系统和网络系统。
计算系统通常将包括某些形式的临时信息存储介质,例如随机存取存储器。在最新的计算系统中,信息处理系统所包含的存储量可以是千兆字节级的。随着存储大小的增加,存储部分可能被制造得存在缺陷或者随着时间地过去而变得存在缺陷的可能性也在急剧增大。如果放任不理,不管缺陷存储单元有多大,缺陷存储单元的存在能导致信息处理系统出现故障,该故障能够引起信息处理系统的当前操作的突然终止,从而导致重要数据的丢失或可以阻止信息处理系统的完全启动。
随着计算系统不断地发展和计算机技术的进步,CPU和存储器之间的操作关系变得更加重要。现代系统的许多属性(特别是多核处理器和虚拟化的全面引入)导致了不断增长的存储占用量(footprint)。因此,不仅仅系统存储器逐渐变成整体解决方案成本的相当大的部分,而且存储器中的错误行为的影响会对计算系统的相关寿命周期费用产生更加坏的影响。
通常,嵌入的错误校正策略成功地被用于避免在单比特上的“冲突(crash)”并且被用来检测多比特恶化(corruption)。然而,随着存储器体积的变小以及存储容量的增大,有必要增加服务保护的另一个标准,该标准是迅速可用的并且常驻在它自己的存储模块中。PC结构中系统的成功运行依赖于某些存储区域没有缺陷。例如,甚至在包括128GB存储器的高级处理器系统中,如中断矢量地址、基本输入/输出系统(“BIOS”)数据区域以及在F000:0地址空间的64KB区域的某些存储区域不包括缺陷是至关重要的。
存在许多被用来追踪或用来指示存在已知存储错误的各种方法。因此,在缺陷的或损坏的存储块的存在和状况是已知的实例中,可以容忍存储缺陷(memory defect)的早期BIOS加电自检(“POST”)过程变得有必要。特别地,尽管存在已知的存储缺陷,但期待允许POST过程在没有冲突的情况下成功地完成POST初始化过程。
发明内容
根据本发明的内容,公开了一种用于在单个处理器和多处理器信息处理系统中的POST阶段和存储器校准期间处理存储缺陷的方法,由此关于已知存储缺陷的位置的信息被利用以优化信息处理信息的性能。
本发明的技术优点在于其通过在不损害系统性能的情况下允许具有已知存储缺陷的存储组件的使用,从而大幅降低了信息处理系统的成本。识别并存储存储缺陷信息的能力允许具有部分有缺陷的存储组件的信息处理系统在没有“冲突”的情况下操作。特别地,信息处理系统在它绕过有缺陷的存储单元时保持可操作性,并且当新的缺陷出现时更新它的存储缺陷信息。随着系统存储器逐渐成为了整个解决方案成本的相当大的部分,所述改进之处的重要性也得到了扩大。
本发明的另一个技术优点在于其允许系统保持正常工作而不管系统存储器中的较小的缺陷。通过最小化错误的存储器行为的影响,根据本发明的系统和方法可以大幅降低信息处理系统的相关的寿命周期费用。通过阅读以下说明书、权利要求书和附图,其他技术优点对本领域技术人员而言将显而易见。
附图说明
通过参考以下结合附图的描述,可以获得对本实施方式及其优点的更加透彻的理解,附图中,相同的参考数字表示相似的特征,其中:
图1是传统的信息处理系统的框图;
图2是在具有非一致性随机存储器访问结构的服务器中处理存储缺陷的步骤的流程图;
图3是在双列直插式存储模块(Dual In-line Memory Module)校准时处理存储缺陷的流程图;
图4是具有缺陷区域的示例的存储模块的流程图;
图5是在分配用于POST任务使用的存储器时处理存储缺陷的步骤流程图。
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