[发明专利]半导体元器件及制造方法无效
申请号: | 200810211050.9 | 申请日: | 2008-08-20 |
公开(公告)号: | CN101383342A | 公开(公告)日: | 2009-03-11 |
发明(设计)人: | 闻叶廷;H·希卫斯 | 申请(专利权)人: | 半导体元件工业有限责任公司 |
主分类号: | H01L25/00 | 分类号: | H01L25/00;H01L23/488;H01L23/495;H01L21/50;H01L21/60 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 秦 晨 |
地址: | 美国亚*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 元器件 制造 方法 | ||
技术领域
本发明一般涉及半导体元器件,尤其是涉及包括有源和无源电路 元件的半导体元器件。
背景技术
电子电路用在包括汽车、电信、医疗、航空、海运、计算、游戏 等的各种便携式和非便携式应用中。电子电路制造商不断地努力减小 这些电路的尺寸和制造成本,同时增加其功能和性能。电子电路一般 由安装在印刷电路板上的有源和无源电路元件组成。虽然这些电路板 包括允许有源和无源电路元件彼此通信的互连结构,但这些互联结构 增加了制造电子电路的成本且可能降低其性能。用于增加电子电路的 功能和性能的另一方法是将各种电路元件集成到单个半导体基底中。 这种方法的缺点是,无源电路元件例如电感器和电容器消耗了半导体 基底的大量区域。因此,它们增加了制造电子电路的成本。
因此,有包括有源和无源电路元件的半导体元器件以及用于制造 该半导体元器件的、有成本和时间效益的方法是有利的。
附图说明
结合附图阅读下列详细描述后,将更好地理解本发明,其中相似 的参考符号表示相似的元件,且其中:
图1是根据本发明的实施方式的、用在半导体元器件的制造中的 引线框的顶视图;
图2是沿图1的剖面线2-2截取的图1的引线框的横截面图;
图3是根据本发明的实施方式的、图2的引线框在变薄之后的横 截面图;
图4是根据本发明的实施方式在制造期间使用图3的引线框的多 个半导体元器件的横截面图;
图5是图4的多个半导体元器件在后续制造阶段时的横截面图;
图6是图4中图5的多个半导体元器件在后续制造阶段时的顶视 图;
图7是根据本发明的实施方式的单一元件化的(singulated)半 导体元器件的横截面图;
图8是图7的单一元件化的半导体元器件的等轴测视图;
图9是根据本发明的另一实施方式图2的引线框在变薄之后的横 截面图;
图10是在制造期间使用图9的引线框的多个半导体元器件的横 截面图;
图11是根据本发明的另一实施方式的另一单一元件化的半导体 元器件的横截面图;
图12是图11的单一元件化的半导体元器件的等轴测视图;
图13是根据本发明的另一实施方式的用在另一半导体元器件的 制造中的引线框的顶视图;
图14是沿图13的剖面线14-14截取的图13的引线框的横截面 图;
图15是在制造期间使用图14的引线框的多个半导体元器件的横 截面图;
图16是根据本发明的另一实施方式的单一元件化的半导体元器 件的横截面图;
图17是图16的单一元件化的半导体元器件的等轴测视图;
图18是根据本发明的另一实施方式的用在另一半导体元器件的 制造中的引线框的顶视图;
图19是沿图18的剖面线19-19截取的图18的引线框的横截面 图;
图20是根据本发明的另一实施方式图19的引线框在变薄之后的 横截面图;
图21是根据本发明的另一实施方式在制造期间使用图20的引线 框的多个半导体元器件的顶视图;
图22是图21的单一元件化的半导体元器件的等轴测视图;
图23是根据本发明的另一实施方式用在另一半导体元器件的制 造中的引线框的顶视图;
图24是沿图23的剖面线24-24截取的图23的引线框的横截面 图;
图25是沿图23的剖面线25-25截取的图23的引线框的横截面 图;
图26是根据本发明的另一实施方式图25的引线框在变薄之后的 横截面图;
图27是根据本发明的另一实施方式在制造期间使用图26的引线 框的多个半导体元器件的顶视图;
图28是根据本发明的实施方式的单一元件化的半导体元器件的 横截面图;
图29是根据本发明的另一实施方式用在另一半导体元器件的制 造中的引线框的顶视图;
图30是沿图29的剖面线30-30截取的图29的引线框的横截面 图;
图31是沿图29的剖面线31-31截取的图29的引线框的横截面 图;
图32是根据本发明的另一实施方式在图31中示出的引线框在变 薄之后的横截面图;
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