[发明专利]发光组件发光亮度检测方法、装置及检测机台有效
申请号: | 200810211709.0 | 申请日: | 2008-09-23 |
公开(公告)号: | CN101685034A | 公开(公告)日: | 2010-03-31 |
发明(设计)人: | 王遵义;冯清章;张志交 | 申请(专利权)人: | 中茂电子(深圳)有限公司 |
主分类号: | G01J1/10 | 分类号: | G01J1/10 |
代理公司: | 北京明和龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 郁玉成 |
地址: | 518054广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光 组件 亮度 检测 方法 装置 机台 | ||
1.一种发光元件发光亮度检测方法,供检测机台检测该发光元件 所发光波长分布及发光亮度,该机台包括接收该发光元件所发光束中 的一个第一部分光束并检测其波长分布的频谱分析装置、接收来自该 发光元件所发光束中的一个第二部分光束并检测其亮度的视效光感测 装置、储存有该视效光感测装置的感测响应函数与标准视效函数及/或 该感测响应函数与标准视效函数间的视效函数误差的记忆装置及处理 装置,该方法包括下列步骤:
a)致能该发光元件发光;
b)由该处理装置接收该频谱分析装置所获得的该第一部分光束的 波长分布数据;
c)由该处理装置将该视效光感测装置的感测响应函数与标准视效 函数、或该视效函数误差,与该第一部分光束的波长分布数据加权计 算获得一个补偿比例;及
d)将该视效光感测装置测得的该第二部分光束亮度依该补偿比 例,补偿运算获得该发光元件所发光亮度。
2.如权利要求1所述的检测方法,其中该补偿比例 且Sm(λ)系该第一部分光束的波长分布数据, V0(λ)系标准视效函数,V(λ)系该视效光感测装置的感测响应函数; 且λ1、λ2分别对应可视频率上、下限。
3.如权利要求1所述的检测方法,其中该补偿比例 且Sm(λ)系该第一部分光束的波长分布数 据,(V0(λ)-V(λ))系该视效光感测装置的该感测响应函数与标准视效 函数间的该视效函数误差,V(λ)系该视效光感测装置的感测响应函 数;且λ1、λ2分别对应可视频率上、下限。
4.一种发光元件发光亮度检测机台,系供检测该发光元件所发光 波长分布及发光亮度,包括:
接收来自该发光元件所发光束中的一个第一部分光束并检测其波 长分布的频谱分析装置;
接收来自该发光元件所发光束中的一个第二部分光束并检测其亮 度的视效光感测装置;
储存有该视效光感测装置的感测响应函数与标准视效函数及/或 该感测响应函数与标准视效函数间的视效函数误差的记忆装置;及
指令致能该发光元件发光;接收该频谱分析装置所获该第一部分 光束的波长分布数据;将该视效光感测装置的感测响应函数与标准视 效函数、或该视效函数误差,与该第一部分光束的波长分布数据加权 计算获得一个补偿比例;及将该视效光感测装置测得的该第二部分光 束亮度依该补偿比例,补偿运算获得该发光元件所发光亮度的处理装 置。
5.如权利要求4所述的检测机台,其中该补偿比例 且Sm(λ)系该第一部分光束的波长分布数据, V0(λ)系标准视效函数,V(λ)系该视效光感测装置的感测响应函数; 且λ1、λ2分别对应可视频率上、下限。
6.如权利要求4所述的检测机台,其中该补偿比例 且Sm(λ)系该第一部分光束的波长分布数 据,(V0(λ)-V(λ))系该视效光感测装置的该感测响应函数与标准视效 函数间的该视效函数误差,V(λ)系该视效光感测装置的感测响应函 数;且λ1、λ2分别对应可视频率上、下限。
7.如权利要求4所述的检测机台,还包括用以区分该发光元件所 发光束为该第一部分光束及该第二部分光束的分光装置。
8.如权利要求7所述的检测机台,其中该分光装置为分光镜。
9.如权利要求4、5、6、7或8所述的检测机台,其中该频谱分析 装置为分光仪。
10.如权利要求4、5、6、7或8所述的检测机台,其中该视效光 感测装置包括:
视效滤光片;及
位于该视效滤光片下游的光传感器。
11.一种发光元件发光亮度检测装置,系供对应区分该发光元件 所发光束为两束光束波长分布对应该所发光束的受测光束的分光装 置;接收来自该分光装置该受测光束中的一个第一受测光束并检测其 波长分布的频谱分析装置;接收来自该分光装置该等受测光束的一个 第二受测光束并检测其亮度的视效光感测装置;而供检验该发光元件 所发光波长分布及发光亮度者,该检测装置包括:
储存有该视效光感测装置的感测响应函数与标准视效函数间的视 效函数误差的记忆装置;及
指令致能该发光元件发光;接收该频谱分析装置所获该第一受测 光束的波长分布数据;将该视效函数误差与该第一受测光束波长分布 数据加权计算获得一个补偿比例;及将该视效光感测装置测得的该第 二受测光束亮度依照该补偿比例,补偿运算获得该发光元件所发光亮 度的处理装置。
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