[发明专利]硅基薄膜结构空气质量流量传感器无效

专利信息
申请号: 200810211741.9 申请日: 2008-09-24
公开(公告)号: CN101408442A 公开(公告)日: 2009-04-15
发明(设计)人: 徐宇新;蔡丰勇;邱飞燕;张国昌;刘福民;李瑞龙 申请(专利权)人: 北京时代蓝天光电技术有限公司;温州百岸汽车零部件有限公司
主分类号: G01F1/684 分类号: G01F1/684;G01F1/86
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100854北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 薄膜 结构 空气质量 流量传感器
【权利要求书】:

1.一种硅基薄膜结构空气质量流量传感器,其特征在于设置有采用MEMS工艺在硅基底材料上实现的隔热腔体、绝缘薄膜、加热电阻、测温电阻在内的敏感元件,所述加热电阻位于驾在隔热腔体上的绝缘薄膜绝缘之上。

2.根据权利要求1所述的空气质量流量传感器,其特征在于所述测温电阻位于硅基底材料上的绝缘薄膜之上。

3.根据权利要求1所述的空气质量流量传感器,其特征在于所述加热电阻和测温电阻采用MEMS工艺在同一基底上一次性完成,保证二者具有相同的温度敏感系数。

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