[发明专利]激光二极管用外延晶片及其制造方法有效
申请号: | 200810212432.3 | 申请日: | 2008-08-26 |
公开(公告)号: | CN101425658A | 公开(公告)日: | 2009-05-06 |
发明(设计)人: | 黑须健 | 申请(专利权)人: | 日立电线株式会社 |
主分类号: | H01S5/00 | 分类号: | H01S5/00;H01S5/323;C30B29/40;H01L21/205;H01L33/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 钟 晶 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 激光 二极 管用 外延 晶片 及其 制造 方法 | ||
1.激光二极管用外延晶片,其为具有双异质结构的化合物半导体外延晶片,即在n型GaAs衬底上依次至少层叠n型包覆层、活性层以及p型包覆层,并且所述n型包覆层、活性层以及p型包覆层均由AlGaInP系材料构成,其特征在于,所述由AlGaInP系材料构成的p型包覆层中的p型杂质为碳,所述p型包覆层中的载流子浓度在8.0×1017cm-3以上、1.5×1018cm-3以下的范围。
2.根据权利要求1所述的激光二极管用外延晶片,其特征在于,所述由AlGaInP系材料构成的n型包覆层中的n型杂质为硅。
3.激光二极管用外延晶片的制造方法,对被加热的n型GaAs衬底,供给必要的III族原料气体、V族原料气体、载流气体以及掺杂剂原料气体,在所述n型GaAs衬底上,至少生长具有n型包覆层、活性层以及p型包覆层的双异质结构的外延层,并且所述n型包覆层、活性层以及p型包覆层均由AlGaInP系材料构成,其特征在于,在生长所述由AlGaInP系材料构成的p型包覆层时,作为所述掺杂剂原料气体供给四溴化碳,使所述p型包覆层中的载流子浓度在8.0×1017cm-3以上、1.5×1018cm-3以下的范围。
4.根据权利要求3所述的激光二极管用外延晶片的制造方法,其特征在于,生长所述由AlGaInP系材料构成的n型包覆层时,作为所述掺杂剂原料气体,供给硅掺杂原料气体,向所述n型包覆层中掺杂硅。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日立电线株式会社,未经日立电线株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810212432.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。