[发明专利]显示面板及其测试系统

权利要求书

1.一种面板，其特征在于，所述的面板包括：

一显示区，具有多个像素；

多个测试垫，配置于所述的显示区外，用以接收多个测试信号；

多个测试晶体管，配置于所述的显示区外且耦接所述的测试垫，用以传递所述的测试信号至所述的像素；以及

多个静电保护装置，每一静电保护装置放置于每两个测试垫之间。

2.如权利要求1所述的面板，其特征在于，第i个静电保护装置包括：

一第一二极管，其阳极端耦接第i个测试垫；

一第二二极管，其阳极端耦接所述的第一二极管的阴极端；

一第三二极管，其阴极端耦接所述的第二二极管的阴极端；

一阻抗组件，其第一端耦接所述的第三二极管的阳极端；

一第四二极管，其阳极端耦接第i+1个测试垫；

一第五二极管，其阳极端耦接所述的第四二极管的阴极端；以及

一第六二极管，其阴极端耦接所述的第五二极管的阴极端，而其阳极端耦接所述的阻抗组件的第二端，其中i为正整数。

3.如权利要求2所述的面板，其特征在于，第i个静电保护装置还包括：

一第七二极管，其阳极端耦接第i个测试垫；

一第八二极管，其阳极端耦接所述的第七二极管的阴极端；

一第九二极管，其阴极端耦接所述的第八二极管的阴极端，而其阳极端耦接所述的阻抗组件的第一端；

一第十二极管，其阳极端耦接第i+1个测试垫；

一第十一二极管，其阳极端耦接所述的第十二极管的阴极端；以及

一第十二二极管，其阴极端耦接所述的第十一二极管的阴极端，而其阳极端耦接所述的阻抗组件的第二端。

4.如权利要求2所述的面板，其特征在于，所述的阻抗组件包含非晶硅。

5.一种测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：

一面板，包括：

一显示区，具有多个像素；

多个测试垫，配置于所述的显示区外，用以接收多个测试信号；

多个测试晶体管，配置于所述的显示区外且耦接所述的测试垫，用以传递所述的测试信号至所述的像素；以及

多个静电保护装置，每一静电保护装置放置于每两个测试垫之间，用以消耗一静电的能量，并且阻隔所述每两个测试垫间的通路；

一治具，用以放置所述的面板，且具有多个与所述的测试垫电性连接在一起的测试针；以及

一测试机台，耦接所述的测试针，用以提供所述的测试信号。

6.如权利要求5所述的测试系统，其特征在于，第i个静电保护装置包括：

一第一二极管，其阳极端耦接第i个测试垫；

一第二二极管，其阳极端耦接所述的第一二极管的阴极端；

一第三二极管，其阴极端耦接所述的第二二极管的阴极端；

一阻抗组件，其第一端耦接所述的第三二极管的阳极端；

一第四二极管，其阳极端耦接第i+1个测试垫；

一第五二极管，其阳极端耦接所述的第四二极管的阴极端；以及

一第六二极管，其阴极端耦接所述的第五二极管的阴极端，而其阳极端耦接所述的阻抗组件的第二端，其中i为正整数。

7.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，第i个静电保护装置还包括：

一第七二极管，其阳极端耦接第i个测试垫；

一第八二极管，其阳极端耦接所述的第七二极管的阴极端；

一第九二极管，其阴极端耦接所述的第八二极管的阴极端，而其阳极端耦接所述的阻抗组件的第一端；

一第十二极管，其阳极端耦接第i+1个测试垫；

一第十一二极管，其阳极端耦接所述的第十二极管的阴极端；以及

一第十二二极管，其阴极端耦接所述的第十一二极管的阴极端，而其阳极端耦接所述的阻抗组件的第二端。

8.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述的阻抗组件包含非晶硅。