[发明专利]存储器位错误产生装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种应用于电脑领域中的电脑主板存储器纠错测试技术，特别是涉及一种存储器位错误产生装置。

背景技术

作为电脑系统中的重要部件，存储器是由多颗随机读写存储半导体芯片和连接这些半导体芯片的电路板组成，这些半导体芯片中有成百万个记忆单元，每个单元通过电路开关的型态记忆“0”或“1”的数码信息。而存储器是用以配合中央处理单元(CPU)高速存储正在执行的程序及数据的，因此，存储器的可靠性和容错能力一直是业界研究的课题。

目前，业界已将错误检查与纠正技术(Error Checking andCorrecting；ECC)应用于例如服务器、工作站等电子装置中，以测试主板存储器纠错性能。然而，要应用上述ECC技术需配合使用存储器位错误产生装置，以通过该存储器位错误产生装置用以令待测存储器产生位错误，从而在后续通过该ECC技术执行主板存储器纠错性能测试。

如图1所示，其显示了现有存储器位错误产生装置结构示意图，其可产生单位及双位错误。该装置是由普通存储器(DIMM)改装而得，如图所示，其分别于存储器1的任意二存储器颗粒11、12的引脚110、120与存储器上对应的引脚13、14之间的传输线路1a、1b上设置跳线器15、16。

在进行ECC测试之前，需将该存储器位错误产生装置插入主机板上的目标存储器插槽(DIMM slot)中，并于该主机板上的其它存储器插槽插入普通的存储器以产生合理的存储器配置，之后，开机进入操作系统并运行存储器测试软件。当需要产生单位错误时，将该存储器位错误产生装置的跳线器15或16去掉以将存储器颗粒11(或存储器颗粒12)上的引脚110(或存储器颗粒12上的引脚120)与存储器条上对应的引脚13(或引脚14)断开，以使引脚13(或14)处于悬空状态，进而产生单位错误。

当需要产生双位错误时，将该存储器位错误产生装置的跳线器15、16均去掉以将存储器颗粒11、12上的引脚110、120与存储器条上对应的引脚13、14断开，以使引脚13、14均处于悬空状态，进而产生双位错误。

然而，前述现有的存储器位错误产生装置仍存在如下缺陷：

首先，去掉该存储器位错误产生装置上的跳线器15及或16后，存储器1上用于产生位错误的引脚13及或14处于悬空状态，其状态可能为逻辑“0”，或为逻辑“1”，因此在运行存储器测试软件进行读操作时需考虑到处于悬空状态的引脚的两种状态值。

其次，由于现有的存储器位错误产生装置是由一般的DIMM存储器改制而成，故需要直接对存储器的线路进行改动，(例如上述在存储器颗粒11、12的一引脚110、120与存储器条上对应的引脚13、14之间的传输线路上设置1a、1b上设置跳线器15、16)。而这种线路改动需要很高的技巧，风险较大，很容易导致改动失败，导致存储器报废，造成资产损失。

再次，由于跳线器15、16的尺寸太小，其插拔很不方便。尤其是对于某些CPU平台，多位存储器错误会导致系统自动重起，此时需要操作人员迅速将刚刚拔掉的跳线器插上，方能保证系统顺利重起并看到错误信息。如此操作即给测试过程增加额外的困难。

再者，在进行ECC测试时，必须使用与现有的存储器位错误产生装置同一型号的存储器，若该型号存储器短缺，测试便无法进行，因而给测试带来一定的限制。

因此，如何提出一种新的存储器位错误产生装置，以克服上述现有技术的种种缺陷，实已成为目前业界急待克服的课题。

发明内容

鉴于上述现有技术的缺点，本发明的一个目的在于提供一种存储器位错误产生装置，使其制作容易，不易造成资产损失。

本发明的又一个目的在于提供一种存储器位错误产生装置，在该存储器位错误产生装置中无需使用跳线器，使用方便。

本发明的再一个目的在于提供一种存储器位错误产生装置，无需使用与其型号相同的存储器，因而不会给ECC测试带来限制。

本发明的再一个目的在于提供一种存储器位错误产生装置，其能够将产生位错误的数据引脚钳位于一种逻辑状态。