[发明专利]电解质晶体管及其制造方法有效
申请号: | 200810214451.X | 申请日: | 2008-08-26 |
公开(公告)号: | CN101459195A | 公开(公告)日: | 2009-06-17 |
发明(设计)人: | 林哲歆 | 申请(专利权)人: | 财团法人工业技术研究院 |
主分类号: | H01L29/76 | 分类号: | H01L29/76;H01L21/334;H01L51/05;H01L51/40 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 封新琴 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电解质 晶体管 及其 制造 方法 | ||
1.一种电解质晶体管,包括:
栅极结构,其包括栅极介电层与栅极,位于基板上方;
两源极/漏极,其彼此分离,位于该栅极结构两侧的该基板上方;
电解质层,位于该两源极/漏极之间并与其接触,并且位于该栅极结构与该基板之间;
埋入式导电层,其位于该电解质层与该基板之间,以及
介电层,位于该埋入式导电层周围,且覆盖于该埋入式导电层上并且具有开口,暴露部分埋入式导电层,并隔绝该埋入式导电层与两源极/漏极;
其中,该电解质层形成在介电层的开口上并与埋入式导电层电性连接,该两源极/漏极之间的该电解质层包括沟道,通过该电解质层的氧化还原反应来改变其导电性,以开启或关闭该沟道。
2.如权利要求1所述的电解质晶体管,其中该电解质层的材质包括固态电解质。
3.如权利要求2所述的电解质晶体管,其中该固态电解质包括掺杂银、铜、铬或铌的硒化锗、硫化锗、AgTeSe、AgTeS、AgSeS或是有机材料。
4.如权利要求3所述的电解质晶体管,其中有机材料为一种聚合物材料。
5.如权利要求4所述的电解质晶体管,其中该聚合物材料选自聚噻吩、聚吡咯、聚苯胺、聚异唑萘、聚亚苯基亚乙烯基及其共聚物。
6.如权利要求4所述的电解质晶体管,其中该聚合物材料为3,4-二烷氧基噻吩的聚合物。
7.如权利要求4所述的电解质晶体管,其中该聚合物材料为3,4-二烷氧基噻吩的共聚物。
8.如权利要求6或7所述的电解质晶体管,其中该3,4-二烷氧基噻吩的聚合物或共聚物选自聚(3,4-亚甲基二氧噻吩)、聚(3,4-亚乙基二氧噻吩)、聚(3,4-亚丙基二氧噻吩)以及聚(3,4-亚丁基二氧噻吩)。
9.如权利要求3所述的电解质晶体管,其中该有机材料还包括阴离子化合物。
10.如权利要求9所述的电解质晶体管,其中该阴离子化合物包括聚(苯乙烯磺酸)或其盐类。
11.如权利要求3所述的电解质晶体管,其中该有机材料还包括粘合剂。
12.如权利要求11所述的电解质晶体管,其中该粘合剂选自明胶、明胶衍生物、聚丙烯酸、聚甲基丙烯酸、聚乙烯吡咯烷酮、多糖、聚丙烯酰胺、聚氨基甲酸酯、聚环氧丙烷、聚环氧乙烷、聚(苯乙烯磺酸)以及聚乙烯醇及其盐类以及其共聚物。
13.如权利要求2所述的电解质晶体管,其中该固态电解质还包括离子盐。
14.如权利要求2所述的电解质晶体管,其中该介电层还隔离该两源极/漏极与该基板。
15.如权利要求1所述的电解质晶体管,其中该介电层还隔离该两源极/漏极与该基板。
16.如权利要求1所述的电解质晶体管,其中该两源极/漏极的材质包括铝、银、金、白金、铜、铜铝合金、钨、镍、氮化钛、氮化钽、氮化钼或其组合。
17.如权利要求1所述的电解质晶体管,其中该栅极的材质包括铝、银、金、白金、铜、铜铝合金、钨、镍、氮化钛、氮化钽、氮化钼或其组合。
18.如权利要求1所述的电解质晶体管,其中该埋入式导电层的材质包括铝、银、金、白金、铜、铜铝合金、钨、镍、氮化钛、氮化钽、氮化钼或其组合。
19.如权利要求1所述的电解质晶体管为空乏型晶体管。
20.一种电解质晶体管的制造方法,包括:
在基板上形成埋入式导电层;
在该基板上形成介电层,该介电层具有开口,裸露出该埋入式导电层;
在该开口两侧的该介电层上分别形成源极/漏极;
在该两源极/漏极之间形成电解质层;以及
在该电解质层上形成栅极介电层与栅极,以构成栅极结构。
21.如权利要求20所述的电解质晶体管的制造方法,其中该介电层、该两源极/漏极、该电解质层、该栅极结构以及该埋入式导电层是以相同的技术方法形成。
22.如权利要求21所述的电解质晶体管的制造方法,其中该介电层、该两源极/漏极、该电解质层、该栅极结构以及该埋入式导电层是以喷墨印刷的技术形成的。
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