[发明专利]单一光子产生装置及量子位读取装置和方法有效
申请号: | 200810215748.8 | 申请日: | 2008-09-09 |
公开(公告)号: | CN101399425A | 公开(公告)日: | 2009-04-01 |
发明(设计)人: | 市村厚一;后藤隼人 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | H01S3/00 | 分类号: | H01S3/00;H01S3/10;G02F1/00;G06N1/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 秦 晨 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 单一 光子 产生 装置 量子 读取 方法 | ||
1.一种产生单一光子的方法,其包括:
准备包括共振角频率ωc的共振腔模式的光学共振腔;
准备包含在所述光学共振腔中的材料,其包括低能态|g>和高能态|e>,并且包括被外场所改变的|g>→|e>之间的跃迁角频率ωa;
向所述材料施加角频率ωl不同于共振角频率ωc的光;以及
向所述材料施加第一外场以改变跃迁角频率ωa以便与角频率ωl共振,使得材料的状态被变换到高能态|e>,并随后向材料施加第二外场以改变跃迁角频率ωa以便与共振角频率ωc共振,使得材料的状态被恢复到低能态|g>。
2.如权利要求1所述的方法,其中,施加所述第一外场以使得跃迁角频率ωa在π/Ω的时间段内等于角频率ωl以便将材料的状态变换到高能态|e>,并随后施加所述第二外场以使得跃迁角频率ωa在π/g的时间段内等于共振角频率ωc以便使材料的状态恢复到低能态|g>,Ω是指示角频率ωl的光与双态物理体系的耦合量值的拉比角频率,g是指示共振腔模式与双态物理体系的耦合量值的耦合常数。
3.如权利要求1所述的方法,其中,施加所述第一外场以改变跃迁角频率ωa以便在长于1/Ω并短于T的时间段内跨越ωl-Δ/2与ωl+Δ/2之间的角频域以便将材料的状态变换到高能态|e>,并随后施加所述第二外场以改变跃迁角频率ωa以便在长于1/g并短于T的时间段内跨越ωc-Δ/2与ωc+Δ/2之间的角频域以便使材料的状态恢复到低能态|g>,Ω是指示角频率ωl的光与双态物理体系的耦合量值的拉比角频率,g是指示共振腔模式与双态物理体系的耦合量值的耦合常数,T是|g>→|e>之间的跃迁的纵向松弛时间,Δ是均匀加宽。
4.如权利要求1所述的方法,其中,施加所述第一外场以使得跃迁角频率ωa在π/Ω的时间段内等于角频率ωl以便将材料的状态变换到高能态|e>,并随后施加所述第二外场以改变跃迁角频率ωa以便在长于1/g并短于T的时间段内跨越ωc-Δ/2与ωc+Δ/2之间的角频域以便使材料的状态恢复到低能态|g>,Ω是指示角频率ωl的光与双态物理体系的耦合量值的拉比角频率,g是指示共振腔模式与双态物理体系的耦合量值的耦合常数,T是|g>→|e>之间的跃迁的纵向松弛时间,Δ是均匀加宽。
5.如权利要求1所述的方法,其中,施加所述第一外场以改变跃迁角频率ωa以便在长于1/Ω并短于T的时间段内跨越ωl-Δ/2与ωl+Δ/2之间的角频域以便将材料的状态变换到高能态|e>,并随后施加所述第二外场以使得跃迁角频率ωa在π/g的时间段内等于共振角频率ωc以便使材料的状态恢复到低能态|g>,Ω是指示角频率ωl的光与双态物理体系的耦合量值的拉比角频率,g是指示共振腔模式与双态物理体系的耦合量值的耦合常数,T是|g>→|e>之间的跃迁的纵向松弛时间,Δ是均匀加宽。
6.如权利要求1所述的方法,其中,所述光学共振腔是单面法布里-珀罗共振腔。
7.如权利要求1所述的方法,其中,所述材料是包含在晶体中的稀土离子,|g>→|e>之间的跃迁对应于稀土离子的f-f跃迁,并且所述外场是电场或磁场。
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