[发明专利]加热烹调器有效

专利信息
申请号: 200810215917.8 申请日: 2008-09-09
公开(公告)号: CN101539309A 公开(公告)日: 2009-09-23
发明(设计)人: 一柳俊成 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝家用电器控股株式会社;东芝家用电器株式会社
主分类号: F24C7/02 分类号: F24C7/02;F24C7/08
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 陈海红;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 加热 烹调
【权利要求书】:

1.一种加热烹调器,其特征为,

具有:磁控管,其对加热室内供给微波;磁控管温度检测机构,其在 每次驱动上述磁控管时检测该磁控管的温度上升的程度;寿命判断机构, 其判断上述磁控管的寿命;以及通知机构,其通知由该寿命判断机构判断 出的寿命;上述寿命判断机构在由上述磁控管温度检测机构检测到的磁控 管的温度上升的程度比预定界限值大的时刻,判断为上述磁控管的寿命已 到,通过上述通知机构将这一情况通知给用户。

2.根据权利要求1所述的加热烹调器,其特征为,

寿命判断机构根据开始烹调并经过了预定时间时的上述磁控管的检测 温度,来判断寿命。

3.根据权利要求1或2所述的加热烹调器,其特征为,

具有食品温度检测机构,该食品温度检测机构检测食品的温度;寿命 判断机构根据在由上述食品温度检测机构检测到的食品温度为预定温度时 的上述磁控管的检测温度,来判断寿命。

4.根据权利要求1或2所述的加热烹调器,其特征为,

具有驱动时间测定机构,该驱动时间测定机构测定磁控管的累计驱动 时间;寿命判断机构直到经过预定的累计驱动时间为止,不进行寿命的判 断。

5.根据权利要求1或2所述的加热烹调器,其特征为,

寿命判断机构根据磁控管温度检测机构检测到的多个上述磁控管的检 测温度数据,计算除了其中的最大值和最小值之外的多个温度数据的平均 值,在该平均值达到预定温度以上时,判断为磁控管寿命已到。

6.根据权利要求1或2所述的加热烹调器,其特征为,

寿命判断机构只在特定菜单的工作时才判断寿命。

7.根据权利要求1或2所述的加热烹调器,其特征为,

具备负荷检测机构,该负荷检测机构检测食品的负荷量;寿命判断机 构只在由上述负荷检测机构检测到的食品负荷量在预定范围内时,才判断 寿命。

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