[发明专利]一种粒子分类统计方法及装置

权利要求书

1.一种粒子分类统计方法，适用于粒子检测仪对粒子进行分类统 计，其特征在于所述方法包括以下步骤：

A1、收集每个粒子在检测仪中产生的至少两种特征；

B1、选择其中的两种特征将其表征为二维向量，并映射到二维散点图 上；

C1、在所述散点图上划分出需要分类统计的各种类粒子的分布区域；

D1、计算各个区域内粒子的分布函数；

E1、根据各个区域内的粒子分布函数对所有区域的粒子进行分类统 计；

步骤D1中所述的粒子的分布函数为正态分布函数。

2.如权利要求1所述的粒子分类统计方法，其特征在于：所述步骤 A1包括以下步骤：用光照射粒子，收集每个粒子的至少两个方向的光信息。

3.如权利要求1所述的粒子分类统计方法，其特征在于：步骤B1 中所述的二维散点图描绘在二维坐标系中，散点图中的每个点P可以用向 量(x，y，n)表示，其中x为P点在X轴方向坐标，y为P点在Y轴方向坐标， n为在P点的粒子个数。

4.如权利要求1所述的粒子分类统计方法，其特征在于：在步骤 B1之后、C1之前对映射到二维散点图上的所有点设置门限，删除无效数 据，步骤C1中所述的粒子分布区域的初步划分采用固定区域划分法或投 影直方图寻找波谷的方法。

5.如权利要求3所述的粒子分类统计方法，其特征在于：步骤D1 中所述的粒子的分布函数为正态分布函数，所述每个区域中粒子的正态分 布函数的计算公式为：

Fi(x,y)=Si2π|Ci|e-12(x-x‾i,y-y‾i)Ci-1x-x‾iy-y‾i,i=1,...,N]]>

其中，x表示散点图中X轴方向坐标，y表示散点图中Y轴方向坐标， S_i为对第i类粒子总数的估计值，C_i为第i个区域内粒子坐标的协方差矩 阵，|C_i|为矩阵C_i的行列式，为矩阵C_i的逆矩阵，为第i个区域内粒 子在X轴方向坐标的均值，为第i个区域内粒子在Y轴方向坐标的均值， 它们的计算公式为：

x‾i=1Σj=1MinijΣj=1Minijxij,]]>y‾i=1Σj=1MinijΣj=1Minijyij,]]>

Ci=σix2σixyσixyσiy2,]]>

Si=AiPi,]]>

其中σix2=1Σj=1Minij-1Σj=1Minij(xij-x‾i)2,]]>σiy2=1Σj=1Minij-1Σj=1Minij(yij-y‾i)2,]]>

σixy=1Σj=1Minij-1Σj=1Minij(xij-x‾i)(yij-y‾i),]]>

Pi=∫∫(x-x‾i,y-y‾i)Ci-1x-x‾iy-y‾i≤Ki212π|Ci|e-12(x-x‾i,y-y‾i)Ci-1x-x‾iy-y‾idxdy,]]>

A_i为区域内的粒子总数，K_i为常量，M_i为 第i个区域中点的个数，x_ij为第i个区域内的第j个点在X轴方向的坐标， y_ij为第i个区域内第j个点在Y轴方向的坐标，n_ij为点(x_ij，y_ij)处的粒子 个数；

N表示需要分类统计的各种类粒子的分布区域的个数。