[发明专利]一种闪存器件仿真设备以及闪存主控模块评测方法无效
申请号: | 200810217479.9 | 申请日: | 2008-11-18 |
公开(公告)号: | CN101419844A | 公开(公告)日: | 2009-04-29 |
发明(设计)人: | 倪凯;马建设;王怀涛;张海光;林家用;崔铭常;张松;程雪岷;毛乐山;林喜荣;符英文;李慧平 | 申请(专利权)人: | 清华大学深圳研究生院;东莞市智盾电子技术有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 深圳创友专利商标代理有限公司 | 代理人: | 江耀纯 |
地址: | 518055广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 闪存 器件 仿真 设备 以及 主控 模块 评测 方法 | ||
1.一种闪存器件仿真设备,用于监测闪存主控模块(202)的工作状态,其特征在于,包括:
闪存接口模拟模块(101),用于与闪存主控模块(202)交换数据;
闪存存储特性模拟模块(102),用于模拟闪存的信号,并输出到所述闪存接口模拟模块(101);
数据存储模块(103),用于存储各种数据;
通信接口模块(106),用于与上位机(300)交换数据;
操作监测模块(105),用于接收由所述闪存接口模拟模块(101)输入的信号,并把该信号传送到所述通信接口模块(106);以及
系统配置模块(104),用于控制所述闪存存储特性模拟模块(102)、数据存储模块(103)和操作监测模块(105)的工作。
2.根据权利要求1所述的闪存器件仿真设备,其特征在于,所述闪存存储特性模拟模块(102)所模拟闪存的信号,对应闪存的内部功能,所述内部功能包括:数据的写入、读出、坏块、突发读写错误和原始误码。
3.根据权利要求1所述的闪存器件仿真设备,其特征在于,所述操作监测模块(105)还处理分析所接收的闪存主控模块(202)所输出的数据,并把处理结果通过所述通信接口模块(106)传送给所述上位机(300)。
4.根据权利要求1所述的闪存器件仿真设备,其特征在于,所述系统配置模块(104)保存有:用于控制闪存存储特性模拟模块(102)的存储特性参数的配置参数;所述存储特性参数包括:包含访问速度和读写延迟的接口特性参数、总容量、页容量、坏块数量和位置、原始误码率、数据错误、写入操作失败、读出操作失败以及突发错误概率。
5.根据权利要求4所述的闪存器件仿真设备,其特征在于,所述上位机(300)通过通信接口模块(106)向所述系统配置模块(104)写入所述配置参数。
6.根据权利要求1、2、3、4或5所述的闪存器件仿真设备,其特征在于,所述通信接口模块(106)采用USB接口。
7.根据权利要求6所述的闪存器件仿真设备,其特征在于,所述数据存储模块(103)采用DRAM或硬盘,所述闪存接口模拟模块(101)、闪存存储特性模拟模块(102)、系统配置模块(104)和操作监测模块(105)集成在同一片FPGA上。
8.一种闪存主控模块评测方法,其特征在于,包括如下步骤:
闪存器件仿真设备通过闪存接口模拟模块(101)与闪存主控模块(202)连接;
A.闪存器件仿真设备向闪存主控模块(202)发出模拟闪存的信号并接收闪存主控模块(202)输出的信号;
B.对闪存主控模块(202)输出的信号进行统计与分析。
9.根据权利要求8所述的闪存主控模块评测方法,其特征在于,闪存器件仿真设备包括:通信接口模块(106)、数据存储模块(103)、系统配置模块(104)、操作监测模块(105)和闪存存储特性模拟模块(102);该方法还包括如下步骤:
上位机(300)通过所述通信接口模块(106)向所述系统配置模块(104)输入:用于控制闪存存储特性模拟模块(102)的存储特性参数的配置参数,所述存储特性参数包括:包含访问速度和读写延迟的接口特性参数,总容量、页容量、坏块数量和位置、原始误码率,以及突发错误概率。
10.根据权利要求9所述的闪存主控模块评测方法,其特征在于,
所述步骤A包括:
所述操作监测模块(105)负责接收并处理通过所述闪存接口模拟模块(101)输入的所述闪存主控模块(202)的数据;所述闪存存储特性模拟模块(102)将由所述闪存主控模块(202)输入的闪存地址转化数据存储模块(103)的物理地址,当所述闪存主控模块(202)命令写入数据时,所述闪存存储特性模拟模块(102)产生写入数据相关的冗余信息,与由所述闪存主控模块(202)所要写入数据一起写入到所述数据存储模块(103);当所述闪存主控模块(202)命令读出数据时,所述闪存存储特性模拟模块(102)对由所述数据存储模块(103)读出数据进行冗余信息去除;所述闪存存储特性模拟模块(102)根据所述系统配置模块(104)的命令产生与相应的存储特性参数对应的信号,并通过所述闪存接口模拟模块(101)传送给所述闪存主控模块(202);
所述步骤B包括:
所述闪存主控模块(202)输出的信号由所述闪存器件仿真设备处理后传送给上位机(300),由所述上位机(300)进行统计与分析。
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