[发明专利]一种等离子体增强式化学气相沉积处理方法有效

专利信息
申请号: 200810222116.4 申请日: 2008-09-09
公开(公告)号: CN101671817A 公开(公告)日: 2010-03-17
发明(设计)人: 徐强;蔡明 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: C23C16/513 分类号: C23C16/513
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 代理人: 宋志强;麻海明
地址: 100176北京*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 等离子体 增强 化学 沉积 处理 方法
【权利要求书】:

1.一种等离子体增强式化学气相沉积处理方法,对晶圆衬底依次进行第一稳定化处理、沉积处理、氢去除处理、第一净化处理和起片处理后,得到晶圆衬底上的薄膜,其特征在于,该方法还包括:

在沉积处理和氢去除处理之间进行第二净化处理;

所述第一稳定化处理为向放置晶圆的反应炉中通入前驱气体;

所述第一净化处理及第二净化处理都为采用抽气的方式将放置晶圆的反应炉中的所有气体抽走,去除该晶圆衬底上的薄膜表面的游离态的氢。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述进行第二净化处理之后,所述进行氢去除处理之前,该方法还包括:

进行第二稳定化处理;

所述第二稳定化处理为向放置晶圆的反应炉中通入前驱气体。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述沉积处理、所述第二净化处理、所述第二稳定化处理及所述氢去除处理,根据所述得到晶圆衬底上的薄膜厚度,重复执行。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述晶圆衬底为硅、或铜、或二氧化硅SiO2、或氟掺杂SiO2、或碳掺杂SiO2、或以上材料的混合物。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(北京)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(北京)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810222116.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top