[发明专利]静电卡盘装置及其温度控制方法有效
申请号: | 200810224801.0 | 申请日: | 2008-10-21 |
公开(公告)号: | CN101373731A | 公开(公告)日: | 2009-02-25 |
发明(设计)人: | 刘利坚 | 申请(专利权)人: | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/00;C23C16/458;C23C16/46;C23C14/50;C30B25/12;H01J37/32;C23F4/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 魏晓波;逯长明 |
地址: | 100016*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 静电 卡盘 装置 及其 温度 控制 方法 | ||
1.一种静电卡盘装置,其静电卡盘的基体之中具有冷却介质腔 体,其特征在于,进一步包括能够向所述冷却介质腔体提供冷却介质 的第一冷却通道、第二冷却通道,以及选择所述第一冷却通道和所述 第二冷却通道之一与所述冷却介质腔体相连通的通道切换装置;所述 第一冷却通道、所述第二冷却通道中的冷却介质存在温差。
2.如权利要求1所述的静电卡盘装置,其特征在于,所述第一 冷却通道、所述第二冷却通道中冷却介质的温差范围为20℃至30℃。
3.如权利要求2所述的静电卡盘装置,其特征在于,所述第一 冷却通道中冷却介质的温度范围为0℃至30℃,所述第二冷却通道中 的冷却介质的温度范围为20℃至50℃。
4.如权利要求1所述的静电卡盘装置,其特征在于,进一步包 括至少一个附加冷却通道,所述第一冷却通道、所述第二冷却通道以 及各所述附加冷却通道中冷却介质的温度均不相同;所述通道切换装 置选择所述第一冷却通道、所述第二冷却通道以及各所述附加冷却通 道中的一者与所述介质腔体相连通。
5.如权利要求1所述的静电卡盘装置,其特征在于,进一步包 括控制器,预定条件成就时所述控制器通过所述通道切换装置选择不 同的冷却通道与所述冷却介质腔体相连通。
6.一种等离子体处理设备,其特征在于,包括如权利要求1至5 任一项所述的静电卡盘装置。
7.一种静电卡盘的温度控制方法,通过加热器提高所述静电卡 盘的温度,并通过冷却介质腔体中的冷却介质调节所述静电卡盘的温 度,其特征在于,所述冷却介质腔体连通至少两条冷却通道,各冷却通 道中冷却介质的温度均不相同;需要升温时向所述冷却介质腔体中输 入温度较高的冷却介质,需要降温时向所述冷却介质腔体中输入温度 较低的冷却介质。
8.如权利要求7所述的静电卡盘的温度控制方法,其特征在于, 通过通道切换装置选择不同的冷却通道与所述冷却介质腔体相连通, 从而向所述冷却介质腔体输入不同温度的冷却介质。
9.如权利要求8所述的静电卡盘的温度控制方法,其特征在于, 所述冷却通道具有两条,即第一冷却通道和第二冷却通道,两者之中 冷却介质的温差范围为20℃至30℃。
10.如权利要求9所述的静电卡盘的温度控制方法,其特征在于, 所述第一冷却通道中冷却介质的温度范围为0℃至30℃,所述第二冷 却通道中的冷却介质的温度范围为20℃至50℃。
11.如权利要求8所述的静电卡盘的温度控制方法,其特征在于, 所述通道切换装置的切换由控制器在预定条件成就时完成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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